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共查询到6条相似文献,搜索用时 15 毫秒
1.
论在X射线探伤中曝光时间与管电压的关系
丛伟
刘午
周海
张鹏
《沈阳航空工业学院学报》
2003,20(2):17-18
本文针对X射线探伤中曝光时间与管电压的关系以及曝光时间在探伤中的实际意义做了详尽分析,并提出了对于不同厚度的零件如何选择曝光时间的原则。
相似文献
2.
关于薄样X射线荧光光谱强度理论公式推导的探讨
王质彬
赵萍
《航空计测技术》
1990,(5):12-15,45
相似文献
3.
关于薄样X射线荧光光谱强度理论公式推导的探讨(续)
王质彬
赵萍
《航空计测技术》
1990,(6):7-12
相似文献
4.
X射线衍射技术对InSb材料的无损检测
王武杰
赵岚
陈慧娟
何英杰
傅月秋
鲁正雄
《航空精密制造技术》
2008,44(2):45-47
采用2θ-ω对称扫描,对(111)、(333)、(044)不同衍射面进行了ω扫描,得到了InSb不同衍射面之间强度和半峰宽度的规律;对晶片上不同位置进行了同一衍射面的ω扫描,得到半峰宽度的mapping,此外,还对材料进行了倒易空间(RSM)扫描。测试结果表明InSb材料结晶质量完好,均匀性好,符合制造良好光电器件的标准。
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5.
X射线衍射法测量残余应力的相对误差及不确定度评定
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张杰
付雪松
刘崇远
《宇航材料工艺》
2018,48(4):71-74
利用原位拉伸机进行单轴连续加载,对X射线法测量钛合金残余应力的应力增量进行验证;依据JJF 1059.1-2012标准,对钛合金高应力标样(-659±35)MPa的测量不确定度进行评定。结果表明,X射线衍射法测得残余应力的增量与理论计算应力增量有较好的一致性,随着应力水平的增加,应力增量的相对误差保持在11%以内。以测量重复性、应力常数K、应力因子M为不确定度分量对测量不确定度进行了评定,所得扩展不确定度为±32 MPa。
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6.
X射线衍射全谱拟合法测定碳/碳复合材料的点阵常数
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王晓叶
李同起郑 斌冯志海
李仲平
《宇航材料工艺》
2010,40(2)
利用X射线衍射仪,采用全谱拟含的方法,测定三种不同碳材料的点阵常数、石墨化度及微晶参数,测得三种碳材料(每个样品重复5次试验)六方晶系的a的标准偏差小于2.0×10~(-3),c的标准偏差小于1.4×10~(-3),石墨化度(g)的标准偏差小于1.5,微晶参数(L_(c002))的标准偏差小于0.5,是一种有效的测试碳材料晶体参数的方法.
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