正态分布双侧可靠性精确下限与Odeh＆Owen近似下限

正态分布双侧可靠性下限，在产品的性能可靠性分析中，要经常用到。工程中，一般都是使用Odeh＆Owen的近似下限方法。正态分布双侧可靠性精确下限的计算，曾被[1]提出过，但长久以来尚未引起重视，本文再次讨论精确下限及近似下限，并用数值例将精确下限与Odeh＆Owen的近似下限作了比较，结果说明，近似下限偏于保守，而且误差不小，因此对于重要的工程问题，建议使用精确下限。     

正态模型单边可靠性贝叶斯下限的计算方法

本文对正态模型单边可靠性精确的贝叶斯下限的评估公式提供一种计算方法。该方法能达到任意给定的精度,计算复杂度可由O(n~2)降为O(n)。程序结构简单,使用方便。     

由威布尔分布零失效样本求任务可靠性Fiducial-Bayes置信下限

由威布尔分布零失效样本求任务可靠性置信下限，是可靠性评估的重要问题。一本文对威布尔分布形状参数在某区间取值时，采用Fiducial和Bayes方法，给出了求任务可靠性的Fiducial-Bayes置信下限的公式。     

正态模型结构可靠性贝叶斯下限的计算方法

本文对正态模型结构可靠度的贝叶斯精确下限的评估公式提供一种新的计算方法。该方法能达到任意给定的精度。计算复杂度可由O(n~2)降为O(n)。程序结构简单,使用方便。     

Weibull分布可靠性评估的Bayes方法（Ⅱ）

6．Weibull分布参数与可靠性测度的Bayes估计与Bayes可信上，下限的计算方法 （1）E[R^k（t）｜y_]，E（λ｜y_）及诸参数与可靠性测度的Baves上、下限的计算方法。     

威布尔分布的参数估计和可靠性置信下限近似解

该文对威布尔分布的完全样本数据用极大似然法和配矩法估计其形状参数和特征寿命。当样本量较大时,估计得形状参数和特征寿命可近似看成已知量,进而给出威布尔分布的可靠性置信下限近似解。该文可用于指导航天器非电子设备或活动部件的试验设计。     

Weibull与极值分布的l个未来样本的顺序统计量的单边联合预测区间

用基于辅助统计量的条件方法、基于群不变先验的Bayes方法及Fiducial方法,给出了Weibull与极值分布的l个未来样本的顺序统计量的单边联合预测区间,讨论了条件方法给出的该单边联合预测区间的性质与特例,并用数值例进行了说明。     

条件均值对可靠性测度Bayes可信限的应用（Ⅰ）

本文讨论了条件均值对正态分布、对数正态分布、Weibull分布的可靠性测度的Bayes可信限的应用。     

齿轮寿命服从对数正态分布时的模糊Bayes可靠性预测

本文以对数正态分布为研究对象，提出了用神经网络来训练求解可靠度的网络模型，然后利用遗传算法确定估计值的隶属函数的方法。最后给出一个实例证明其有效性。     

二项串联系统可靠性经典方法精确置信限的计算及讨论

本文进一步阐述了用现有的三种不同的排序法计算二项串联系统可靠性经典的精确置信限的方法,指出了M.Lipow和J.Riley在1960年所编制的置信限表所存在的一些问题,介绍了我们所编制的程序具有精确度高且便于推广到多个元件(各元件的试验次数可不相同)的特点,发现了用现有的三种不同的排序法计算精确置信限时所存在的不合理性。我们认为,求解二项串联系统可靠性经典方法的精确置信限问题至今仍然没有解决。     

串联系统可靠性严格置信下限的计算 IUMVE法

针对成败型单元串联系统可靠性经典法严格置信限理论迄今存在的困难,我们提出了成败型单元试验结果向量的改进型UMVE(IUMIVE)排序法,在本文中相应提出了IUMVE法求二、三单元串联系统可靠性严格置信下限的算法、程序和部分计算结果,基本上消除了原有四种排序法计算所存在的非正常点。