高稳晶振短期频率稳定度的仿真分析

基于频率源信号时域稳定度的定义,建立了高稳晶振短期频率稳定度的仿真分析模型,能够对频率源输出频率做前处理、不同方差分析、识别噪声类型、并给出置信区间.在此基础上,引入了晶体振荡器老化特性与温度特性的数学模型.通过构建不同老化特性与温度特性下晶体振荡器输岀频率,在仿真分析模型中定量分析老化特性与温度特性对短期频率稳定度的...     

正弦振动条件下原子钟的频率稳定度分析

振动对原子钟(原子频标)的影响可分为对原子谐振的影响、对伺服环路的影响和对晶体振荡器(晶振)的影响.在振动频率范围内,晶振的输出相位噪声只与晶振的加速度灵敏度、峰值加速度和振动频率有关,与静态相位噪声没有关系,但在振动频率范围之外,晶振的输出相位噪声就是其静态相位噪声. 由原子钟的稳定性传递到输出晶振的频率稳定度公式,就可通过伺服环路把晶振的振动分析融入到原子钟的振动分析之中.利用相位噪声转换为阿仑方差的积分公式,根据留数定理推导出直接计算阿仑方差的解析表达式, 得到增加伺服环路带宽可以有效抑制振动对原子钟频率稳定度影响的结论;分析了通过减振和选择加速度灵敏度较小的晶振这2种方法改善原子钟振动性能的问题.      

频率源的短期频率稳定度及相位噪声测量

叙述了频率源的重要特性—频率稳定度及相位噪声的表征和测量;比较了各种测量方法的优缺点;分析了测量中存在的问题,影响测量结果的因素及其引入的误差;给出了避免这些影响和修正误差的方法;最后介绍了国内外频率稳定度和相位噪声测量的最新进展。     

调频波相位噪声测量的探讨

针对铯钟系统提出的调频波相位噪声测试问题,利用HP3048A相位噪声测试系统进行了测试及测试结果的分析,并作了理论推导和实验验证,给出了理论分析和实验结果相一致的结论。最终提出了调频波相位噪声的数学模型及测试途径。     

应用于空间粒子探测的Si-PIN传感器电子辐照测试

长期的高能电子辐照会对Si-PIN传感器探测性能造成影响,为了考核应用器件耐电子辐照能力,采用电子辐照源模拟空间电子环境对半导体传感器进行辐照试验.试验结果表明：传感器在接收7.64×10¹⁴辐照剂量情况下,传感器能量响应能力未发生改变,计数效率稍有下降;随着辐照剂量的增大,虽然传感器漏电流不断增大,但是噪声水平较平稳,传感器的性能不影响载荷工作指标.     

星载辐照剂量深度分布探测仪设计

空间带电粒子对在轨航天器会产生辐照剂量效应,严重时可导致星载设备及航天器等的性能衰减及寿命下降,因此采用了星内多点多方位的辐照总剂量探测技术.在中国首次采用深度剂量监测方案.每个探头设置5个剂量监测点,对应屏蔽厚度分别为0（开窗）,1mm,2.5mm,3.5mm,6mm的铝结构,探测剂量总量程为2×10⁶rad （Si）,最高灵敏度为1rad （Si）.所设计的星载辐照剂量深度分布探测仪可以对卫星在轨遭受的辐照剂量进行实时监测和预警,其探测结果用于研究星内剂量深度分布,对卫星载荷在轨工作状态进行分析评估,并为后续卫星的抗辐照加固设计提供依据.     

一种具有优良短期频率稳定度的晶体振荡器设计

晶体振荡器是电子设备中的关键器件之一;广泛应用于移动通信、导航雷达和计量测试设备中。国内大量的频率源稳定度测试;均采用频率比对的测试方法;需要高稳参考源作为短期频率稳定度（阿伦方差）计量测试的参考;但通常计量用的高性能超稳晶振价格昂贵;且采购周期长;限制了很多工程项目的测试应用。介绍了一种具有优良短期频率稳定度的10 MHz恒温晶体振荡器（Oven Controlled Crystal Oscillator,OCXO）;该产品采用TO封装的高精密真空冷压焊SC切晶体谐振器;振荡电路使用集电极输出的科尔皮斯电路;控温电路则为改进的双运放比例积分电路。测试结果表明;产品短期频率稳定度达1.46E-13/1 s、1.52E-13/10 s;相位噪声达到-120 dBc/Hz@1 Hz、-137 dBc/Hz@10 Hz、-147 dBc/Hz@100 Hz;在-40～70 ℃的工作温度范围内;频率温度稳定性达到±2.98E-10。在计量学、低轨卫星星座建设等领域具有广泛的应用前景和价值。     

有机硅热控涂层在模拟空间环境下的原位性能

研究了热控涂层在地面模拟空间环境下的性能变化：原位测定了紫外、电子辐照过程中热控涂层的性能变化;考察了K2SiO3包覆ZnO情况对涂层性能的影响;用扫描电镜（SEM）对辐照前后涂层表面微观形貌的变化进行了观察。结果表明,无论是缩合型的硅树脂还是加成型硅橡胶,在加入ZnO填料后,耐紫外辐照的能力都有明显的提高;不同种类涂层在真空紫外辐照作用下表现出不同规律。硅酸钾包覆ZnO对于有机硅树脂和加成型硅橡胶作基料的热控涂层影响也不同。加成型硅橡胶制备得到的热控涂层有非常优异的抗电子辐照性能。     

调相白噪声对频率传递短期稳定度的影响分析

详细分析了调相白噪声对频率稳定度的影响。经过理论分析,得出了频率传递系统信噪比的开方与稳定度成正比,调制信号频率与稳定度成正比。经过分析得到,在一定范围内,提高激光器光功率可以提高频标传递的稳定度;调制频率和传递系统信噪比是影响短期稳定度的两个重要因素;通过增加EDFA的方法不能提高传递系统短期稳定度,反而每增加4到5个EDFA,稳定度下降1个数量级。     

振动状态下频率源特性测试技术研究

阐述了频率稳定性时频域表征的理论和测试方法,以及在振动条件下测量频率稳定性的意义,详细介绍了测量系统的组建方案及工作原理.最后提供了部分测试数据及测试曲线,并对测试系统的经济效益和社会效益进行了简单分析.该测试系统具有噪底低,体积小,便于携带,操作简便等特点,其综合技术指标达到国内领先水平,不仅适用于振动状态下的频率源特性测试,而且完全可以作为通用测试系统用于实验室、工厂等.     

低相位噪声10次倍频器研究

研制了低相位噪声10次倍频器。采用了5、2次倍频级联方法,使倍频器在100MHz/0dBm信号输入下,输出1GHz/10dBm信号,杂散小于<-55dB。介绍了倍频器的设计思路、调试方法和测试结果等。     

雷达改善因子与相位噪声及阿伦方差之间的关系

由于电子对抗技术的发展 ,对雷达提出越来越高的要求。雷达工作时经常会遇到来自致周围环境的有源或无源干扰 ;现代雷达应该具备抗各种有源和无源干扰的能力 ,作为雷达核心的频率源既要具备频率捷变能力 ,又要具备很高的频率稳定性。从而促进现代雷达频率源向着捷变频、低相噪方向发展 ,重点分析频率源的技术指标对雷达改善因子影响。     

全相参捷变雷达频率合成器

较详细地介绍了航空航天部二院二○三所研制的10cm全相参捷变雷达频率合成器的设计方案。对设计中主要考虑的降低相位噪声,提高频率捷变速度,电磁兼容等问题进行了分析讨论。介绍对频综的频率捷变速度的测量方法。     

脉冲雷达频率稳定度的测试方法

雷达发射机频率稳定度严重地限制雷达改善因子和可见度。现在连续波频率稳定度测量技术已达很高水平,但现代雷达多半采用脉冲调制体制,射频脉冲序列稳定度是一个新问题。本文给出测试系统原理图、脉间频率和相位稳定度测量方法以及时域、频域测量结果。