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探讨了在地面光学测量条件下,直接解算空间动态目标间相对距离的方法,以避开首先解算两动态目标位置分量的要求,而有效地简化解算过程.在此基础上,对多台光学测量设备交会的观测数据,应用非线性递推估计,提供精确解算动态目标间相对距离量的方法,它不需按常规方法对观测方程进行线性化处理,有利于解算结果精度的提高,也减少了计算量. 相似文献
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李真刘国方张卫文 《民用飞机设计与研究》2013,(4):29-32
采用非线性有限元分析软件ABAQUS对型材压损破坏形式以及承载能力进行了分析,在分析中考虑了材料非线性、几何非线性。有限元分析结果与试验结果对比表明,仿真分析结果可以准确地模拟型材压损破坏形式及承载能力,该仿真分析方法可以用于飞机设计工作。 相似文献
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为了将高度非线性函数应用于认证码构造理论.讨论了非线性函数的度量,给出了由三类非线性函数构造的Cartesian认证码,并且当编码规则按等概率分布选取时,分别计算了三类认证码的模仿攻击和欺骗攻击成功的概率。结果表明,第二类认证码模仿攻击成功的概率达到了下界。在n取值相同的条件下,第一类认证方案模仿攻击成功的概率比第三类的大。 相似文献
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从测量原理出发,分析研究了测量误差产生的原因,建立了其对测量精度的影响模型,并在MATLAB下进行了仿真。最后对口径120mm,长径比1.2的椭球形保形头罩进行了实测试验。测量试验表明:上述方法能够高精度的重构出面形轮廓,方法简单,实用。 相似文献
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在分析光学设备需求、相位差异技术基本原理的基础上,对相位差异技术进行实验验证,并就其在靶场光学测量设备中的应用进行技术探讨。根据实验结果,原始图像的Fisher值为6.98×10-4,采用相位差异技术恢复后,图像的Fisher值提高到2.50×10-3,恢复结果验证了相位差异技术对水平传输过程中大气扰动的抑制能力。研究表明,该技术可有效改善大气湍流、光学系统像差对光学测量设备高分辨力成像的影响,还可应用于光学测量设备安装调试过程以及外场期间故障诊断和像差检测及校正。针对该技术实时性不足的问题,提出了优化算法、优化软件结构、选择高性能处理器等解决方案。 相似文献
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提高诊断准确率是非线性系统故障诊断的重要目标之一。从非线性滤波的角度,系统地分析了线性化误差和模型误差对诊断准确率的影响。首先揭示了线性化误差及模型误差两因素对非线性滤波性能的影响机理,接着通过计算非线性系统故障的后验条件熵,以及错误率的Bhattacharyya上界,从机理上证实提高非线性滤波精度对于提高故障诊断准确率的意义。 相似文献
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这里介绍的是一种多目标的光学识别方法,以及相应设备,方法的跟踪能力。此钼,还介绍了跟踪已识别物体的情况。在工作时,待识别物体由多点空间滤波器预先确定。 相似文献
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非线性气动弹性模型参考自适应控制 总被引:1,自引:0,他引:1
首先将含有前/后缘双控制面二元机翼的动态方程以状态空间形式描述,然后考虑俯仰方向的迟滞非线性模型存在参数不确定性的情况下,利用Lyapunov稳定性理论进行了结构化模型参考自适应控制律设计。仿真结果显示:所设计的控制律能够使开环不稳定的气动弹性系统快速地达到稳定状态。由于最大控制面偏转的存在,来流速度较高时闭环系统仍会发生颤振;根据控制面最大偏转的不同取值,文中给出了闭环临界颤振速度的变化曲线。 相似文献
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在马赫数Ma-3.8超声速风洞中,采用PIV(Particle Image Velocimetry,粒子图像测速)技术测量了超声速光学头罩流场的速度分布。PIV技术应用于超声速流场时,对系统的硬件配备、示踪粒子的跟随性以及PIV算法的精度有很高的要求。本文PIV系统选用高精度的同步控制器和高能量激光器;以纳米级粒径的粒子作为示踪粒子,通过斜激波响应实验分析了其在超声速流场中的跟随性;并采用多种高精度速度场算法对粒子图像进行处理。实验结果表明,示踪粒子在超声速流场中有很好的跟随性,采用的高精度速度场算法能够很好地反映超声速光学头罩流场的速度分布。 相似文献
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叙述了激光核聚变、大型非球面和共形光学零件的超精密加工技术 ;将超精密切削、磨削、计算机数控抛光和连续抛光技术结合起来 ,成功地应用于激光核聚变光学零件的超精密、批量制造 ;分析了研制大型非球面光学零件超精密加工装置应该解决的关键问题 ,并提出了解决方法 相似文献
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保形红外光学元件制造技术 总被引:1,自引:0,他引:1
保形光学制造技术是光学制造中的一个新技术分支,由于它的高陡度、非球面特点,给制造带来很大困难。实现高精度的制造还需开发一些新的技术,这是对光学技术的新挑战。 相似文献
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张航 《航空精密制造技术》2019,55(3):57-59
通过内反射光学零件的分析,结合光学小角度测量原理,实现了内反射光学零件与结构件之间装调精度的在线实时装调,提高了光学组件装调的精度和装调效率。同时也为内反射光学零件与结构件装调定位走出了一条新路,对后续产品的光学装配及调试提供了新的方法。 相似文献