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相似文献
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1.
半导体器件(晶体二、三极管、可控硅、集成电路)是航空机载设备电子系统的重要组成部分。其功能可靠性直接影响或决定电子系统的可靠性。由于航空产品特殊的工作环境与较高的技术要求,使得半导体器件在工作状态要受到电应力、热应力、气候应力、机械应力等综合作用,这就决定了半导体器件的失效率要受到诸多负荷因素的影响。因此,器件的失效过程是一个多维、非平稳随机过程,由多种因素所决定。器件失效与工作负荷、内在工艺质量、环境条件、筛选工艺等因素有关。从实质上讲,航空用半导体器件的质量控制必须从器件的固有质量、器件的使用及器件的老化筛选三个主要环节加以控制。这三个环节具有内在联系,缺一不可。  相似文献   

2.
美军标(MIL-STD-750)《半导体器件试验方法》是涉及半导体器件可靠性的重要标准。该标准中的试验方法众多,涉及内容全面、细致。MIL-STD-750经多次修改,目前已推出MIL-STD-750D译文新版。MIL-STD-750D与MIL-STD-750C相比,增加新试验方法40项,修改试验方法135项次。由于大量增加了新的试验方法,从而使标准内容更先进,充分反映了半导体器件设计、生产和可靠性工作的新成果、新方向,使本标准更具指导意义,也更具有参考价值。MIL-STD-750D译本可供从事半导体器件(包括分立器件和微电子器件)的筛选、鉴定和质量一致性检验、DPA…  相似文献   

3.
一个理想的半导体器件,若处置得当,且按照规范使用,它永远不会损坏。因为半导体器件完全靠电子工作,不存在会磨损的活动部件;而且在正常使用期间,不消耗任何半导体材料。但是,实际上所有的半导体器件均含有最终能导致故障的制造缺陷。其中多数只有轻微的缺陷,它们有较长的使用期(可能超过50年)。但是,交给使用者的常用半导休器件中,约有1%存在着导致早期失效的缺陷。这样的半导体器件,通常在使用的第一年内就失效。它是造成电路早期失灵及电子设备损坏的主要原因。好在有一种方法,可把它们在装机使用之前就检测出来,这就是应力试验法。  相似文献   

4.
晶体管元件的质量直接影响着电子仪表和设备的可靠性。以往,我厂电子仪表和设备使用未经工艺筛选的管子,由于管子的质量优劣差异很大,造成了较高的故障率。而现在使用工艺筛选后的管子,据统计,故障率下降到十分之一左右。我厂批生产中采用的工艺筛选是一种老化筛选,即将进厂的晶体管置于一定的环境和条  相似文献   

5.
通过对外场故障数据和实验室故障数据的分析,说明元器件缺陷和制造缺陷所造成的各种故障是产品现场使用可靠性下降的主要因素,提出大力推行环境应力筛选是提高产品现场使用可靠性的有效办法。  相似文献   

6.
来源于航空部件产品制造工业实际,针对飞机燃油自动耗油控制系统中使用的干簧管在特定环境应力条件下的使用要求,简述了干簧管工作原理和使用性能特点,分析干簧管在苛刻的工作条件下产生故障的原因和模式.对使用前的二次筛选试验方法进行改进,对比传统试验方法可以有效筛选出有故障或有故障隐患的干簧管,可以提高飞机部件产品和整套燃油自动控制系统的可靠性,保障飞机燃油的自动供给功能,使飞机整机安全性能提高.  相似文献   

7.
电子元器件的质量好坏直接影响系统或设备的可靠性,也是设备或系统可靠性的基础,型号在研制、生产、使用的各阶段都应对元器件进行全过程的质量与可靠性管理。本文从元器件管理体系的建立,以及元器件选择、验收、筛选、使用、失效分析,信息管理等方面,介绍了元器件应开展的质量与可靠性控制工作及元器件优选目录等有关管理文件的制定。  相似文献   

8.
激光清洗微电子器件制造中最令人头痛的是有机物和微粒污染。对于亚微米尺度的半导体器件来说,其失效缺陷是微粒污染造成的。加工中,灰尘直径只及器件最小几何尺寸的1/3至1/10就能造成器件失效。传统的超声清洗和强声清洗对微米级及更小尺寸的微粒越来越无能为力了。目前正在研究开发以下几种激光清面:①微粒或表面吸收激光能量后,热扩散产生的力使微粒离开表面;②激光能量被微粒周围和下面的转移介质(例如,少量的水)吸收,导致介质爆炸性汽化,把微粒推离材料表面;③激光能量被基体材料吸收,然后把吸附的转移介质加热,产生爆炸性汽化。初步试验表明,这些激光辅助去除微粒(LAPR)的方法是有效的,使半导体器件生产成品率的提高有了光明的前景。上述清洗方法同样适用于要求特别严格的光学器件表面。  相似文献   

9.
王勃  王佳  庞菁  林坚 《航空计算技术》2010,40(2):117-121
多层陶瓷电容(MLCC)是目前广泛使用的无源器件之一,其失效将会严重影响到机载计算机产品的可靠性,从内在因素、环境因素、电应力情况分析讨论了影响MLCC可靠性、造成MLCC失效的各种原因,提出了应对的预防措施,并在机载计算机产品上进行了相应的实践应用,从而剔除不良品,预防使用中MLCC的失效,提高产品可靠性。  相似文献   

10.
战术导弹武器系统所承受的环境应力是影响其可靠性的主要因素之一。本文根据电了设备的应用场合,环境应力和类型,及其对电子产品可靠性的影响程度。探讨了产品可靠性预计中,如保开展器件质量等级与质量系数选用的技术途径。  相似文献   

11.
可靠性是产品质量的一个重要组成部分。本文论述了可靠性试验、环境应力筛选和可靠性增长试验是提高产品可靠性的重要手段。文中还介绍了“故障报告、分析和纠正措施系统”,它能使可靠性试验取得更大的效果。作者从经济和产品质量角度上陈述应大力开展环境应力筛选和可靠性增长试验的工作。  相似文献   

12.
六一三研究所在机载火控设备研制中加强了对电子元器件的选择和控制,提高了产品的可靠性水平。采取的措施如制定元器件选用管理程序,确定元器件优选顺序,编制元器件选用目录,加强元器件进所检验控制和使用前的老化筛选,改进元器件的使用设计和焊装工艺,抓好元器件试验和外场使用的故障分析和信息反馈等。目前尚存在需进一步加强对进口元器件的质量控制,及时更新元器件优选手册,以及如何克服国产元器件质量不稳定的问题。  相似文献   

13.
美军标MIL -STD -883,原名微电子器件试验方法和程序。从 1 968年问世以来 ,对微电子器件可靠性的提高起着重要的作用。众所周知 ,在军用电子系统中对可靠性要求最高的是微电子器件。为适应微电子器件这种特殊“地位” ,美国国防部每年都投入大量的人力物力进行研究。因此 ,该标准几乎每年都会作 1次甚至 2次重大修改 ,并以“通告”形式发布。如此频繁的修改、补充现象在美军标中也极为罕见。这充分反映美国国防部对军用微电子器件可靠性的高度重视。也正因为重视对该标准的研究、修改和补充 ,使该标准 30多年来始终能对微电子器件的…  相似文献   

14.
航空发动机可靠性问题的特征之一是综合性和多重性。为提高航空发动机寿命及可靠性,降低故障率,应在设计过程中确保较高的固有可靠性,并在加工制造过程中保证其质量和可靠性;同时,应通过大量部件试验及整机试车验证其可靠性。在使用及维护过程中,保持其可靠性。  相似文献   

15.
微电子器件的散热技术微电子器件封装的趋势是封装密度大幅度地增长,虽然由于器件技术的进步,使每个线路的功率平稳地降低.但由于每个芯片的线路总数目的增长和器件的封装密度的提高,而使功率消耗密度不断地增大。因此如何散热,对增加线路传输速度和可靠性是非常重要...  相似文献   

16.
通过对比自动油门电门组件送修后和原装机件的可靠性水平,探究部件送修后可靠性低的原因,并利用Loglinear NHPP拟合MCF函数得到送修次数和送修后使用时间的关系,进而平衡送修和采购新件成本,优化采购和送修策略,同时结合部件故障历史对低可靠性的自动油门电门组件进行筛选报废,达到提高部件可靠性的目的。  相似文献   

17.
机载电子设备环境应力筛选   总被引:1,自引:0,他引:1  
环境应力筛选是电子产品使用最广、最有效的一种可靠性试验方法。本文探讨了环境应力筛选中的典型应力和需注意的一些问题,论述了筛选试验方案设计应考虑的主要内容和要求、筛选方案优劣的评价方法以及筛选暴露的典型缺陷等。  相似文献   

18.
环境应力筛选是电子产品使用最广、最有效的一种可靠性试验。主要探讨了环境应力筛选中的典型应力及需注意的一些问题,论述了筛选试验方案设计应考虑的主要内容和要求、筛选方案优劣的评价方法以及筛选暴露的典型缺陷等。  相似文献   

19.
一种加速环境应力筛选方法的应用   总被引:1,自引:0,他引:1  
介绍了一种加速环境应力筛选方法的应用。通过在应答机生产中的实际使用,证明此方法对提高产品的可靠性具有非常明显的作用。  相似文献   

20.
元器件的质量与可靠性一直是制约机载计算机质量与进度的重要因素.本文结合机载计算机对元器件的可靠性要求,以现实条件为基础,对目前所采用的几种保证元器件可靠性的技术进行了探讨,并对取得的成效进行了论述,可以为提高机载计算机元器件的使用可靠性提供一定的借鉴.  相似文献   

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