紧缩场测试扫描架平面度控制系统研制

扫描架是紧缩场现场校准系统的关键测试设备。扫描架扫描平面度是影响校准准确度的关键指标。本文针对自研的扫描区域为φ6m的大型极化扫描架,设计了一套扫描架平面度实时补偿系统。该实时补偿系统可以实时检测扫描架扫描平面相对于基准平面的位置偏差,并通过伺服补偿机构完成补偿。测试结果表明该实时补偿系统可以准确、快速完成平面度的补偿,与半实时补偿方式相比具有更高的效率及精度。目前,该系统已成功应用于紧缩场现场校准。     

紧缩平面场扫描架系统研制

紧缩平面场(CATR)是在较小的微波暗室里模拟远场的电磁环境,以行进各种天线的测量和研究.其最终性能指标要由紧缩平面场扫描架评定.根据紧缩平面场扫描测量原理,及其对扫描架平面度、直线度、定位精度及自动化程度的要求,研制了极坐标型紧缩场扫描架系统,通过采用高精度直线导轨、平面度微调方式和基于工业控制计算机的数字控制技术,达到了所要求的检测精度,满足了紧缩平面场扫描测量的要求.     

大型双反射紧缩场幅相特性校准技术研究

紧缩场是天线、目标RCS测试的关键设备,它能在近距离内把馈源发出的球面波校准为准平面波。为评定紧缩场静区产生的电磁波分布是否符合准平面波特性,需要现场搭建高性能微波幅相收发系统和大型多自由度高精度扫描系统。本文以大型双反射面紧缩场静区性能校准需求为例,从现场计量幅相系统构建、大型复杂扫描系统设计、现场计量实施等方面详细分析了紧缩场静区性能现场校准相关技术。实测结果表明现场搭建的校准系统满足远距离大型双反射面紧缩场静区性能计量需求,各项检测参数量值均满足该紧缩场设计指标要求。     

大型双反射紧缩场幅相特性校准技术研究

紧缩场是天线、目标RCS测试的关键设备,它能在近距离内把馈源发出的球面波校准为准平面波。为评定紧缩场静区产生的电磁波分布是否符合准平面波特性,需要现场搭建高性能微波幅相收发系统和大型多自由度高精度扫描系统。本文以大型双反射面紧缩场静区性能校准需求为例,从现场计量幅相系统构建、大型复杂扫描系统设计、现场计量实施等方面详细分析了紧缩场静区性能现场校准相关技术。实测结果表明现场搭建的校准系统满足远距离大型双反射面紧缩场静区性能计量需求,各项检测参数量值均满足该紧缩场设计指标要求。     

紧缩场电性能校准系统5mm频段幅相稳定性研究

为评定毫米波紧缩场平面波性能是否优良,需要研制高稳定性的毫米波幅相校准系统。本文基于参考支路法,模拟现场实际校准配置,设计利用定向耦合器、可变衰减器等毫米波器件搭建闭环幅相校准系统,以典型工作频点为例,研究系统在5mm频段信号幅相稳定性的变化规律。实验表明,设计的幅相校准系统信号幅相稳定性具有很高的量级,有效提高了系统的测量不确定度指标。     

6mm，8mm，13mm辐射计校准系统的研制

为解决相应频段的辐射计的灵敏度、线性度、稳定性的定标问题.叙述了6mm,8mm,13mm辐射计校准系统的主要技术问题,给出了技术指标,系统组成,工作原理,校准结果及不确定度分析.该系统在国内首次将变温标准辐射源用于辐射计校准,有广泛的应用前景.     

便携式多功能校准仪在专用测试设备现场校准中的应用

航天工程专用测试设备具有系统复杂、参数多、不易移动的特点,常用校准方法复杂度高、效率低、成本高。为保证航天工程科研生产的顺利进行,专用测试设备的准确可靠及可溯源性越来越受到研制、生产和使用方的重视,并介绍了五种常用的专用测试设备校准方法。并针对目前常用校准方法的不足,提出将便携式多功能校准仪应用在专用测试设备现场校准的新方法,给出了不确定度分析。     

便携式多功能校准仪在专用测试设备现场校准中的应用CSCD

航天工程专用测试设备具有系统复杂、参数多、不易移动的特点,常用校准方法复杂度高、效率低、成本高。为保证航天工程科研生产的顺利进行,专用测试设备的准确可靠及可溯源性越来越受到研制、生产和使用方的重视,并介绍了五种常用的专用测试设备校准方法。并针对目前常用校准方法的不足,提出将便携式多功能校准仪应用在专用测试设备现场校准的新方法,给出了不确定度分析。     

激光目标模拟器功率现场校准装置

激光探测设备被广泛应用于精确瞄准、捕获、跟踪系统中,在其投入使用前,需要进行多次仿真测试。激光目标模拟器是激光探测设备仿真测试时使用的重要仿真设备,但是具有体积大、不易搬运的特点。本文设计了一种激光目标模拟器现场功率校准装置。该校准装置由光阑、聚焦光学系统、能量探测单元、时域探测单元、二维位移机构、微型转台和控制软件等组成。校准装置可现场对1.064μm、峰值功率范围(10^-5～10^-1)W的激光目标模拟器功率稳定性及均匀性进行准确、快速校准,功率稳定性及均匀性测量不确定度均小于8%（k=2）,从而为激光目标模拟器提供计量保障。     

便携式现场低频振动校准装置

针对大型结构的谐振频率低，用于其模态测试的振动通道多，系统复杂的特点。本文系统介绍了一种频率范围为0.1Hz～20Hz可用于现场低频振动测试系统校准的振动校准装置。可以有效地解决运载火箭等大型结构模态试验的振动测试系统的现场整体校准问题，对于提高模态试验的效率，节约送检时间等起到了重要的作用。     

太阳帆板平面度测量系统

介绍了一种采用斜光学三角形测量结构和基于虚拟精密测量基准的太阳帆板平面度无接触测量系统.首次提出斜光学三角形测量结构,使得测量系统的测量面积和分辨率大大提高,从而实现了对大面积平面平面度的高精度无接触测量.提出的虚拟精密基准的建模与误差补偿技术,解决了在非精密基准上实现精密测量这一难题,使得所研制的测量系统利用现有平台可实现对太阳帆板平面度的高精度测量.此外,对测量光斑位置估值精度与光斑图像尺寸大小和能量分布之间的定量关系进行了分析,为激光光斑的优化设计提供了理论依据.实际测量结果表明,该测量系统对面积为2581mm×1755mm太阳帆板的平面度测量精度达0.02mm(RMS).     

深微孔内径测量技术研究

介绍了一种基于高准确度电感传感器和红宝石测头,在测长机上实现深微孔径测量的方法,解决了内径的Φ1mm～Φ5mm、深度在40mm以下的深微孔内径的测量问题。通过对深微孔径测量装置测量不确定度的分析,在95%置信概率下,装置的测量不确定度为0.6μm,满足测量要求。     

数字近景摄影大尺寸三坐标测量系统V-STARS的测试与应用

介绍了数字近景摄影大尺寸柔性三坐标测量系统V—STARS的配置、测量原理和测量过程,对其三维坐标及平面度的测量重复性进行了实际测试,与激光跟踪仪进行了平面度的比对测试,并将V—STARS系统成功应用于某17m网状天线的型面测量与调整工程实践中。     

电离层虚高的高精度测量与分析

为了提高电离层虚高测量精度,介绍了利用电离层回波相位实现高精度虚高测量的方法,并以CADI(Canadian Advanced Digital Ionosonde)电离层数字测高仪为研究平台,进行组合脉冲控制和回波相位测量分析,开展了一系列虚高测量实验,并与传统的利用回波时间延迟的虚高测量方法进行了分析比较.实验结果表明,基于回波相位的测量分析方法与回波时延测量分析方法相比,其虚高测量精度高一个量级以上,这对精确反演电离层峰下电子浓度剖面及研究电离层精细结构具有重要意义.      

国内外频率标准发展现状

时间频率在国家经济建设、科学研究、国家安全具有十分重要的意义。本文介绍了国内外高稳晶振、铷原子频率标准、守时型氢原子频率标准和铯原子频率标准、微型相干布局囚禁原子钟、低温蓝宝石微波源和超稳激光微波源以及铯原子喷泉钟的国内外发展情况、技术指标等。铷原子频率标准打破国外垄断，为北斗导航系统提供高精度的时间基准，守时型氢原子频率标准和铯原子频率标准已实现工程化，但日频率稳定度和日频率漂移率指标有待进一步提高，铯喷泉基准方面已接近国际先进水平，新型原子频标发展方兴未艾。     

定矩角锥棱镜长度标准器校准技术研究

针对由两个角锥棱镜组成的定距长度标准器校准问题,提出了一种定距角锥棱镜长度标准器校准方法。采用一种角锥棱镜光学顶点直接瞄准和快速装调方法,实现了角锥棱镜光学顶点的快速瞄准和定位,配合三支路激光干涉精密测长装置,搭建了角锥楼镜长度标准器校准装置,提高了角锥棱镜长度标淮器的瞄准和校准准确度。     

基于反射法的推力室激光扫描测量技术研究

针对推力室身部零件特殊的薄壁回转体结构,应用激光扫描测量方式进行非接触式测量,可避免常规接触式测量的接触力引起接触变形所产生测量误差。本文探索应用激光扫描测量,通过反射法对内腔及遮挡类结构进行单站测量,避免了传统扫描测量中因"移站"带来的坐标转化误差,研究分析了该工艺方法的原理,并通过实际零件测量验证,有效解决推力室身部零件内腔测量问题。反射法激光扫描测量方式可推广应用至其他类似大尺寸薄壁结构件的形位尺寸测量。     

Controlling role of maximum usable frequencies in ionospheric informatics

Considering peak parameters of the ionospheric F region which might be observed/modelled/predicted a few relations connecting such data are pointed out. It is pointed out that the sub-peak semi-thickness of the profile depends on the peak height of the F2-layer. The dispersion range of monthly measurement of the MUFs (maximum usable frequency) inferred from M(3000)F2 is compared with that of the critical frequencies foF2 and found to be larger. The inverted Shimazaki formula yields straight-forward values of MUF from the F2 layer critical frequency and the peak height ZmF2. When comparing MUF-3000 values scaled routinely from ionograms with those obtained from foF2 and ZmF2 of the profile analysis, good agreement is obtained. It is felt that the parameter MUF-3000 is a valuable means for checking data obtained by measurements or by models or by predictions.