DSP大气中子单粒子效应试验研究

利用14Me V快中子辐照源,开展了数字信号处理器(DSP)大气中子单粒子效应地面模拟试验研究。设计了地面模拟的试验方法,包括单粒子效应监测方法、试验系统布局、试验程序及其判据等。获得了SMJ320F2812、SMJ320C6415、TMS320C6416、TMS320C6418等多款型号DSP器件的中子单粒子效应的翻转错误数试验数据,分析计算得到14Me V中子辐照源下的敏感截面。结果显示,DSP器件的主要敏感现象为单粒子翻转(SEU),部分器件还发生了单粒子功能中断效应(SEFI)。相同工艺的被测DSP器件的中子单粒子效应敏感截面具有相同的数量级,验证了本文使用的地面模拟试验方法的可行性,为航空电子设备的可靠性与安全性评估提供了大气中子单粒子效应的器件级基础数据。     

COTS器件管理要求研究

通过对COTS 器件使用风险和管理现状进行说明,对国内外电子器件管理要求的分析和研究,提出 了针对COTS 器件管理的适航要求建议,期望能达成限制机载设备中COTS 器件使用的风险,提升机载设备可 靠性及民用飞机安全性的目的。     

数字信号处理大气中子单粒子效应(SEE)试验研究

本文针对4型航空常用的数字信号处理(DSP)进行了大气中子单粒子效应试验,对辐照条件、试验环境、试验件安装及监测方法进行研究,并对试验结果进行了数据处理及分析。试验结果表明,该4型DSP在14Me V中子辐射下均发生了单粒子翻转(SEU是单粒子效应中的一种模式),TMS320C6416TBGLZA8、TMS320C6418ZTSA500、TMS320F2812及SM32C6415EGLZ50SEP的单粒子翻转截面分别为1.91e-7cm2/device、6.62e-7cm2/device、8.82e-9cm2/device及1.62e-7cm2/device,在12000m处的飞行高度下,器件发生的单位翻转率分别为1.15e-03n/(device·h)、3.97e-03n/(device·h)、5.29e-05n/(device·h)、及9.69e-04n/(device·h)。     

几种机翼气动布局试验研究

本文介绍了在某背景机平台上进行的八种机翼布局方案在FL-1风洞中的高速试验研究，分析了机翼不同平面形状及参数变化的试验结果，可以作为新一代战斗机机翼气动设计的参考。     

非金属材料及电子元器件霉菌试验方法研究

本文叙述了航天产品上使用的非金属材料及电子元器件的霉菌试验方法的研究。本试验将350多件产品上使用的主要非金属材料及电子元器件送往五个地区进行了为期两年的贮存。先后共采集了菌株2716株,经过分析研究选出其中的8个菌种做为试验用菌种。根据航天产品的使用特点,提出了评定生霉等级的办法。国外有关标准规定在放大50倍下观察来评定生霉等级,这在实际工作中难以实施,而国内的有关标准中只规定用肉眼观察,误差较大。本试验方法中规定在放大4倍下观察,它既实用又保证了等级评定的质量。     

SRAM型FPGA散裂中子源反角白光中子单粒子试验

本文利用中国散裂中子源(CSNS)反角白光中子束线开展了45nm工艺XC6SLX150、XC6SLX16两款SRAM型FPGA器件大气中子单粒子效应地面模拟试验,分析获得了器件截面数据并与之前结果进行比较.结果表明,同工艺器件中子单粒子效应截面基本一致,反角白光中子源、LANSCE散裂源及国内14MeV单能中子源单粒子...     

整体式粒子分离器性能的试验研究

为了探索整体式进气粒子分离器(IPS)分离效率的变化规律,针对两种具有不同型面曲率的整体式粒子分离器的三维结构模型开展试验,重点研究了主流路流量、扫气比(SCR)、进口马赫数、进口砂粒浓度和分离器间距对粒子分离器性能的影响规律。实验结果表明:(1)对于不同粒径砂粒,两种模型分离效率均出现随着主流路流量增大而减小的趋势,其中在主流路流量相同的情况下,型面变化平缓的模型分离性能要优于型面变化剧烈的模型;(2)两种整体式粒子分离器模型的分离效率均随扫气比的增大呈现先增大后减小的变化,且这种规律与砂粒粒径无关;(3)随着进口马赫数的增大,两种整体式粒子分离器模型分离效率均仅出现小幅度减小,但在同一进口马赫数下,两种模型分离效率差异显著,最大达到6.54%;(4)采用C级砂时,可以认为粒子浓度对粒子分离器的分离效率没有影响;(5)当分离器轴向间距减小或径向偏离轴线间距减小时,粒子分离器模型的分离效率将出现不同幅度增大。     

非线性下降因子智能单粒子算法

下降因子是基本智能单粒子算法中一个非常重要的参数,控制着算法由全局搜索转向局部搜索的速度,平衡算法的全局和局部搜索性能。基本的智能单粒子算法采用定值下降因子,不能随着计算的需要实时作出调整,对算法的性能造成了一定的不利影响。在基本的智能单粒子算法基础上,通过引入最大下降因子和控制因子这两个参数,提出一种基于非线性策略下降因子智能单粒子算法,成功地使得下降因子能够根据计算的需要而实时改变。函数测试和气动优化结果表明,改进算法能在相同的计算规模下获得比基本智能单粒子算法更好的解。     

单液滴破碎流动机理试验研究

为了研究单液滴破碎内部流动机理,采用高速摄像机对不同流场分布中的液滴变形、破碎过程进行了捕获.基于试验中获得的现象,分析了液滴环境流场结构对液滴变形、破碎过程的影响,对液滴破碎流动机理进行了相关验证,并对其做了进一步完善.研究结果表明:气流的作用强度及液滴内、外部液体的流动特性决定了液滴不同破碎模式的发生;在气流作用下,在液滴的外部,液体沿气流方向的前、后驻点向垂直于气流方向的中心截面极点处运动;而在液滴的内部,为了克服液滴沿气流方向被压缩、沿垂直于气流方向伸展,在阻碍液滴变形内力的作用下,液体沿垂直于气流方向的上、下2极点向液滴中心位置处运动,使得液滴仍然保持球形.     

电子元器件、材料及电子电工产品湿热试验方法的研究

本报告根据大量的气象调查资料,叙述了产品在贮存、运输和使用中可能遇到的湿热环境的影响,并参考了目前国内外常用的湿热试验方法做了验证试验,为电子元器件、材料及电子电工产品湿热试验方法的制定进行了探索。     

一种基于HPC和COTS技术的软件雷达硬件体系结构设计

利用HPC系统强大的运算能力和高速数据传输带宽,通过网络互连所构成的网络拓扑结构,再结合基于具有可靠的工作性能和较低的成本,并且具有标准化、同类器件可替换的COTS技术的产品作为计算节点,构建了一种标准化、模块化的软件雷达硬件体系结构。     

电子元器件电镀工艺研究

Fc-3集成电路在使用过程中经常发生“断腿”现象,经分析,初步认为断腿原因是应力腐蚀,且与电镀层的质量有很大关系。本文中所例举的试样均为电子元器件中较有代表性的三极管、TO型、扁平、双列等品种的管壳。性能测试证明:按本工艺所得的样品均能满足产品要求,尤其在抗蚀性能方面比原工艺有较明显的提高,为减少断腿率提供了有利的条件。     

宇航元器件应用环境识别方法研究

针对一种元器件可以被应用于多种航天产品的情况,本文提出可以通过有效整合现有评价方法的手段来提升其应用环境识别的准确性。基于此,本文选取了模糊综合评价方法和聚类分析方法作为主要的识别方法,并给出了结论的确定原则,最后提出可以借助计算机软件来具体实现这一过程。     

几种动态模型自由飞试验技术

目前在国外应用最广泛的动态模型自由飞试验技术包括三种方法，即：水平风洞模型自由飞，垂直风洞模型自由飞和露天投放模型自由飞，分析了每种方法的关键技术问题，比较三种方法的优缺点，说明在型号设计中应用范围。最后提出几点看法，并建议尽快建立必要的试验设施，研究试验方法，加速我国大迎角／尾旋动态模型试验技术的发展，为型号设计和航空科研服务。     

单颗磨粒磨削钛合金的试验研究

本文采用单颗粒磨削试验方法,比较分析了立方氮化硼（CBN）、碳化钨以及碳化硅等三种磨料磨削钛合金的磨削特性。研究了磨屑形成过程、粘附过程及磨削表面的生成,并测定了三种磨粒的磨损特性。     

一种基于VPL的元器件快速建模方法

为了更好地落实航空电子模块的可制造性设计审查工作,结合航空电子模块产品特点和技术要求,建设了基于Valor软件的PCB/PCBA设计与检测自动化分析系统.元器件模型库作为该系统的必要组成部分,其覆盖范围和数据精度对审查结果至关重要.本文将从元器件模型库建设必要性、建设过程和建模工艺要求三个方面进行阐述,并提出一种基于V...     

碳-碳复合材料的单粒子侵蚀破坏

前言就目前的再入防热材料来说,碳-碳复合材料是最引人注目的。这种材料受自然粒子(雨、雪、冰)和诱发粒子(尘埃)侵蚀的性状是人们所相当关心的一个问题。倪建一等采用二级轻气炮发射粒子的技术进行了碰撞侵蚀实验。所发射的粒子材     

喷管流场V3V试验示踪粒子特性研究

采用体3维测试系统(V3V)试验研究了拉伐尔喷管出口的速度场。为了选择适合V3V试验测量气流流场的示踪粒子,对3种不同物理属性的固体微粒进行测试分析,结果表明:二氧化钛粒径为5～10μm,对于激光散射性太差,粒子亮度较弱,在V3V处理软件识别时粒子匹配不成功;滑石粉和聚苯乙烯的粒径分别为20～25μm和30～35μm,在V3V软件处理4副图片时的粒子匹配率分别为30%和40%,试验得到的速度场与理论计算值误差分别约为2%和5%。     

机载电子硬件中使用COTS IP的开发保证方法研究

结合EASA最新的适航指导文件AMC 20-152A对COTS IP的使用提出的目标,分析使用COTS IP的风险,梳理并探讨在机载电子硬件中使用COTS IP的开发保证方法和具体活动,为机载电子设备研制人员提供了理论支持和实践参考。