宇航用微矩形电连接器评估方法

为验证宇航用微矩形电连接器研制的成熟度和在宇航工程中应用的适用度,提出了一种应用验证的新方法。其核心在于以微矩形电连接器鉴定试验为基础,结合宇航应用的实际背景及其自身特性制定评估试验方案,对其耐受力裕度、实际性能指标进行评价。该方法成功应用于宇航用微矩形电连接器的评估,得出了在不同应用条件下其电性能参数的变化趋势以及与进口样品间电参数比对结果,并对其结构与航天型号要求的符合性以及极限性能指标等进行了评估验证,为微矩形电连接器的研制和应用提供参考依据。     

宇航元器件级应用验证的质量管理

详细阐述了型号用关键电路某型处理器及协处理器元器件级应用验证过程的质量管理活动,说明了应用验证质量管理的重要性,并提出了改进建议。     

高纯氧化铝基板的制备要点与宇航应用验证实践

通过分析高纯氧化铝陶瓷基板的制备要点,梳理了制备关键工艺与基板特性指标之间的关系,梳理出星用高纯氧化铝陶瓷基板的验证需求,最终提出了高纯氧化铝基板的验证思路,即在将全部验证项目分为构件级和组件级两个大类的基础上,进一步建立起三级验证指标体系。就具体验证项目的设计与实践,进行了细致的分析讨论。得出结论,验证过程体现出的既基于已有标准框架和测试原理,又不拘泥于某一特定标准的原则与思路,不仅适合于构件级的批次稳定性与工艺适用性验证,同样也适用于组件级各验证项目和具体测试方法的确定。在确保构件级和组件级全面、准确验证的前提下,为确保较高的验证效率和较低的验证成本,需要结合标准、测试条件、应用工况三方面综合考虑和细化验证项目条件。     

宇航元器件应用验证系统工程研究

在调研国内外宇航元器件应用验证研究及工程实践的基础上,总结了我国宇航元器件应用验证的目标和特点,即以解决元器件宇航应用可用度评价并促进成熟应用为目标,具有多阶段、多领域、多目标、多任务和多参与方等特点。分析了应用验证的复杂性、层次性、整体性、环境适应性等复杂系统特性;在论证系统工程理论和方法指导宇航元器件应用验证研究适用性的基础上,建立了系统工程视角下的我国宇航元器件应用验证技术框架体系,凝练出一套集成的应用验证成果体系。应用验证工程实践表明,应用验证研究成果具备有效性和科学性,但仍需不断丰富和完善。     

宇航元器件应用验证集成质量管理信息系统框架研究

针对宇航元器件应用验证的特殊性,对宇航元器件应用验证集成质量管理信息系统框架开展了初步研究。阐述了构建集成质量管理信息系统的必要性,分析了应用验证质量管理工作的内容和特点,具体研究了集成质量管理信息系统的构成要素和信息流程。采用过程、工具、知识、信息有机集成的设计思路,进行了质量策划、质量综合管理、验证过程质量管理与控制以及质量评估与改进的框架设计。     

宇航元器件飞行验证研究与实践

宇航元器件飞行验证是提高元器件技术成熟度和使用可靠性的重要手段。飞行验证围绕元器件研制关键技术和关键元器件在轨使用,开展影响元器件功能性能的机理研究、可靠性试验和使用策略验证。文章对元器件飞行验证试验方案、工作流程进行了分析与探讨,明确了飞行验证装置设计要求,给出了飞行验证数据分析利用的建议及实践案例。     

宇航元器件长期贮存及寿命评价方法研究

现代武器装备及卫星单机对元器件提出了长期贮存要求。本文结合宇航元器件贮存概念及相关规定,提出了影响元器件装机后贮存寿命的关键要素为元器件属性(结构、材料、工艺等)、贮存环境(温度、湿度、振动、电场、化学腐蚀等)和原有缺陷的增殖程度,并对元器件长期贮存寿命给出了基于单一机理的恒定应力加速寿命试验评价方法流程。     

宇航用元器件质量保证数据统计分析方法研究

研究将数据统计分析技术应用到宇航用元器件质量保证和可靠性评价中,采取"预防为主、同步分析、实时控制"的原则,改进质量保证和质量管理方法,为宇航用元器件生产厂和质量保证机构提供参考。     

宇航元器件标准验证流程设计与优化研究

阐明宇航元器件标准验证需求分析,研究验证项目的确定和验证流程逻辑结构的建立,分析验证流程的属性和特征,提出一套验证流程设计和优化的方法,对宇航元器件标准验证流程的建立过程进行剖析,给出两大类标准的验证流程框图。     

宇航用固体继电器通用规范研究

简述固体继电器特点,概述国内外与其相关的军用产品规范适用范围、技术与采购要求等,针对我国航天型号的技术要求,分析我国固体继电器通用规范的差距,结合宇航产品的品质要求,提出我国编制《宇航用固体继电器通用规范(草案)》的总体框架、验证程序、试验验证、质量等级和工艺要求等内容,并对《规范草案》的结构特点、设计思想和设计结果作了说明。     

宇航元器件应用验证项目风险分析及应对策略

应用验证项目是一类高风险项目,在项目全面开展前有必要对其风险管理进行全面研究分析。本文基于应用验证项目的独特属性,分析了应用验证项目的风险结构,提出以集成管理信息系统为基础、以二维法为基本方法的动态风险识别技术,对应用验证项目的风险进行了识别,明确了项目主要风险和典型风险事件,并经特性分析和应对措施研究,提出了风险应对建议,对后续项目风险管理具有指导意义。     

宇航用元器件监制管理要求研究

监制工作是宇航用元器件质量保证工作的重要组成部分,起着至关重要的前端控制作用。通过对宇航用元器件监制管理要求的研究,引入以用户需求为关注焦点、采取过程质量控制方法的新管理思路,对新形势下宇航用元器件监制的关键要素进行深入分析,并提出了建设性意见,为保障宇航用元器件监制工作更有效的开展,并为今后宇航用元器件监制标准规范的建立提供了条件。     

宇航用元器件的供方管理探讨

分析了目前宇航用元器件供方管理存在的薄弱环节;对宇航用元器件供方管理应关注的主要内容进行了探讨,包括供方管理的目标、供方管理的战略、供方选择的原则、供方评价指标体系以及与供方关系的管理;最后对完善宇航用元器件供方管理提出了几点建议。     

宇航用脉宽调制器评估试验方法

文章结合航天应用需求和脉宽调制器的特点,对宇航用脉宽调制器评估试验的方法和项目开展了深入研究,针对脉宽调制器在寿命前后及不同温度下的典型振荡频率的温漂,基准电压的温漂及长期稳定性,以及外接电阻、电容与振荡频率的关系等特性进行了评估。并通过试验验证了评估方法的有效性,可以为脉宽调制器的宇航应用提供全面的数据支撑和应用指导。     

FPGA宇航应用全流程保证技术

文章分析了FPGA的结构特点,结合宇航型号研制流程和国内近年来元器件保证技术的研究和工程实践,提出了FPGA宇航应用保证流程和保证的内容,针对其中的器件测试、封装工艺鉴定、开发验证和确认、单粒子效应减缓措施等关键技术进行了深入研究。文章提出的相关技术可以作为FPGA宇航应用评价和保证的参考。     

宇航元器件过程控制技术研究

调研了国外先进宇航机构的元器件过程控制技术,结合我国宇航元器件生产现状,阐述了宇航元器件过程控制技术的内涵,提出了将关键参数4个一致性(批次内、批次间、全寿命周期内及三温参数的一致性)的控制要求纳入采购规范的控制思路。     

宇航产品型谱研究与应用

针对宇航产品特点,分析了产品型谱研究与应用的需求,阐述了产品型谱的概念和内涵,并提出了宇航产品型谱编制的程序和方法,建立了型谱应用思路。     

宇航用100 V厚膜DC/DC电源变换器极限评估试验研究

针对宇航用元器件可靠性验证要求,提出宇航用100 V厚膜DC/DC电源变换器的极限评估方法。以新研典型产品为例,依据型号应用的关键参数、相关极限判据和器件详细规范初稿,制定极限评估试验项目及其方法、条件,进行针对性的电应力、温度应力、机械应力等极限试验,并依据试验结果分析器件的各类极限、可靠性裕量等信息,为宇航用100 V厚膜DC/DC电源变换器的研制和应用提供参考。     

NAND Flash存储器单粒子效应试验研究

单粒子效应易诱发空间电子设备发生在轨故障。文章针对大容量NAND Flash存储器,利用皮秒脉冲激光和高能重离子开展了试验研究,明确了此类器件的单粒子效应特点,探索了新型集成电路单粒子效应试验评估方法,为工程设计及试验评估提供了技术基础与保障。经皮秒脉冲激光试验发现,NAND Flash存储器件的存储单元易发生单粒子多位翻转,控制电路单元则发生单粒子锁定和功能中断。 经高LET值Xe+离子辐照试验发现,重离子会诱发器件产生电流尖峰脉冲（或电流火花）现象;在NAND Flash存储器未加电状态下,仍可诱发单粒子翻转;重离子辐照后存储器坏块明显增加,试验获得的单粒子翻转截面高达1.18×10-7cm2/位。基于试验结果分析,认为发生多位翻转的原因是激光束覆盖多个存储单元所造成;重离子辐照引起的浮栅晶体管击穿是存储器坏块增多的原因。     

NASA低成本集成电路宇航应用标准化研究

为实施低成本集成电路宇航应用、发展商业航天元器件,NASA在低成本集成电路的宇航应用方面持续开展研究.文章通过对NASA及其下属各机构在低成本集成电路宇航应用领域的最新成果和方向的介绍,阐述NASA针对低成本集成电路采取不同策略,并通过标准化项目的方式推进,以标准工作形式进行工程推广应用,包括制定新的质量等级、军民标准...