微波印刷板电路基片复介电常数测量研究CSCD

本文研究传输线法测量微波印刷板电路基片的复介电常数。该方法以矢量网络分析仪作为测量仪器,使用与同轴测量端口相匹配的带状线传输线作为待测结构。带状线的复介电常数信息反映在其特征阻抗和复传播常数中,特征阻抗和复传播常数可由其ABCD矩阵得到。由矢量网络分析仪测量得到的二端口散射矩阵(即S参数矩阵)可直接转换为ABCD矩阵,由此求出介质基片的复介电常数。为得到带状线正确的S参数,需要对测量系统进行校准。本文采用由TRL校准原理衍生而来的校准方法做校准。     

Ka波段开腔电介质自动测量系统

介绍了以自行研制的开放式谐振腔为中心的Ｋ＿ａ波段电介质自动测量系统。该系统在计算机控制下，改变频率；采集并读取谐振长度和功率数据；计算Ｑ值，即时算出被测材料的介电常数ε＿ｒ和损耗角正切ｔｇδ。除腔谐振尚需人工调节外，全部实现自动测量。通过测量聚苯乙烯泡沫、聚四氟乙烯、聚乙烯、高压聚乙烯、聚苯乙烯、微晶玻璃、陶瓷基片、复合微波介质基片等材料的电介质参数证实，ε＿ｒ和ｔｇδ在３２～３９ＧＨｚ频率范围内，量程分别达１．２０～２５．０和２．０×１０￣（－５）～２．０×１０￣（－３）。ε＿ｒ和ｔｇδ的测量不确定度分别达±０．５％和±（８％＋３×１０￣（－６））。     

中国航天科工二院二○三所

正材料电磁参数测量可开展基于平板电容法、同轴/波导传输线法、准光腔法、介质谐振器法、自由空间法等的材料电磁参数测量服务,测量频率覆盖1 MHz~110GHz,能够用于校准测试各种透波材料和吸波材料的反射率、透波率、介电常数和损耗角正切等。可根据用户需求定制介电常数测量装置。     

非磁性材料介电常数测量传输反射法改进研究CSCD

在传统NRW传输反射法的基础上,针对非磁性材料的介电常数测试,提出了一种改进算法。该方法分别从反射系数与传输系数入手,得到两种求解表达式,结合两种表达式的优缺点,克服了NRW算法中的厚度谐振与多值解问题,准确求解出材料的复介电常数,此外,针对测试中由于样品移动引起的位置模糊性问题,介绍了一种通过计算求解确定样品位置的方法。最后根据提出的方法编制了测试软件,并对常用微波介质材料进行了测试,完成了对比验证。     

中国航天科工二院二○三所

正材料电磁参数测量可开展基于平板电容法、同轴/波导传输线法、准光腔法、介质谐振器法、自由空间法等的材料电磁参数测量服务,测量频率覆盖1MHz～110GHz,能够用于校准测试各种透波材料和吸波材料的反射率、透波率、介电常数和损耗角正切等。可根据用户需求定制介电常数测量装置。极化栅网极化栅网由一组平行金属丝在同一平面内等间距排列而成,对极化方向与之平行的电磁波反射,对极化方向与之垂直的电磁波透射。在微波毫米波至太赫兹频段应用广泛,在微波遥感、雷达系统、准光测量等领域中极化栅网用作波束合成/分离器、极化     

微波下介质的介电损耗测试与误差分析

本文介绍了一种改进的E010柱形谐振腔近似法测试微波铁氧体材料复介电常数的测试系统。由于在系统中采用了谐波混频和锁相技术,抑制了微波源的寄生调频,消除了稳态的剩余频差,而使源的频率稳定度达1×10~(-8)/小时。同时,在系统中利用双通道零示法克服了微波源输出辐度不稳定对测试的影响。测试精度提高了近十倍。本文还对测试系统做了较详细的误差分析,并给出了误差公式和实验的测试数据。当测试灵敏度为tanδε≈5×10~(-4)时,其精度优于±3％。     

基于矢量网络分析仪的相对介电常数扫频测量

采用波导短路法对介质材料的相对介电常数进行扫频自动测量,通过VC＋＋开发了一套宽频带（8GHz~18GHz）复介电常数自动测量系统。用矢量网络分析仪对波导采样器进行扫频测量,不仅可以得到被测材料介电常数的频率特性,而且能够解决超越方程多值解的判断问题,并减少了测量中的误差。通过对介质样品的实际测量,可以发现,该自动测量系统操作简单、测量速度快,测量结果能够达到较高准确度,结果令人满意。     

用波导六端口反射计开口测量复介电常数

终端开口法测量复介电常数是非破坏性检测介质的一种方法。采用变分法分析了波导终端开口的幅射问题,导出了复反射系数与复介电常数之间的关系,并利用六端口反射计,在35GHz 频率点上对一些介质进行了测量,取得了满意结果。     

利用六端口反射计测量介质材料的ε_r 和μ_r

文章介绍了利用六端口反射计自动测量微波材料的复介电常数ε,和复导磁率μ(?)的原理、测量方法,给出了一些材料样品的测试结果。     

复介电常数与导磁率的自动扫频测量

介绍了利用自动网络分析仪自动扫频测量介质材料的复介电常数ε(?)和复导磁率μ(?)的原理、测量方法,以及为解决扫频测量所采取的技术措施,初步分析了误差源,给出了一些材料样品的测试结果。     

氢频标蓝宝石微波腔金红石温度补偿的仿真设计

为了降低氢原子频标蓝宝石微波腔的频率温度系数,提出采用介质温度补偿技术。该技术利用负温度系数晶体——金红石补偿蓝宝石由于温度变化而引起的介电常数的变化,通过理论计算比较了补偿前后各参数的变化,最后通过软件仿真来验证理论计算的正确性,并确定补偿介质的引入不影响咂。模式。当补偿介质环高度为5mm时,微波腔的频率温度系数为-28．99kHz／℃,Q值为41648,与实验结果相近。     

电介质测量中的谐振腔Q因子特性

对同轴线-集中电容负载谐振腔, 采用传输测量使用的3dB 三频法决定有载Q_l, 计及谐振频率下的插入损耗后获得无载Q_u, 对同一腔体, 也用单端口反射测量技术的xdB 三频法, 并通过测量回程损耗在谐振点和xdB 点的输入反射系数振幅来获得无载Q_u. 在500MHz 下40 个不同的耦合状况下, 两种方法得到无载Q_u的算术平均值和标准差为2519±34. 这两种技术被用来调节和实现传输型谐振腔的输入、输出的等耦合和电介质测量, 本文从介质损耗测量的观点讨论了如何使用有载Q_l和无载Q_u.      

粉末材料的变温介电常数测量

介绍了粉末材料介电常数变温测试系统,测试温度可达200℃。测试系统以传输/反射法为理论基础。测试系统有两个关键的部分,一是利用去嵌入技术去除转接头和垫片的影响;二是温度控制系统,该系统包括被测件的设计,隔热和温度分布情况等。利用该系统,对不同温度下模拟月壤的介电常数进行了测量,在不同温度下,模拟月壤LLB-07和月壤JSC-1A的介电常数非常接近,模拟月壤的介电常数及损耗正切随着温度的升高而增加。利用本文的测试系统能够实现粉末材料的变温介电常数测试。     

一种由压电双晶片测量压电材料参数的动态模型

根据悬臂梁式压电双晶片的动态导纳矩阵 ,提出一种压电材料参数动态测试模型 ,用于测量压电双晶片的几个主要材料参数 :压电应变常数d3 1、机电耦合系数k3 1、介电常数εT3 3 、弹性柔顺系数sE11及材料参数的温度特性。这种测量方法不同于通常的由标准试样测量压电材料参数的方法 ,它直接由一种实用元件—压电双晶片 (非标准试样 )测量压电材料的参数。介绍了测试原理、测试步骤及一种实际试样的测试结果。理论与实验结果表明 :这种新的测试方法是可行的。     

小型氢原子频标微波腔本征值问题的计算机仿真分析

使用Ansoft HFSS软件分别仿真计算了氢原子频标中标准尺寸微波腔、蓝宝石部分介质充填微波腔和不同金属极片间距的磁控管微波腔,并分析了储存泡对谐振频率的影响,得到极片间距和储存泡对谐振频率的影响趋势,对于实际工作时主要影响谐振频率的极片间距的选择给出了建议。     

一种用于测量谐振频率和Q值的数字系统

最近研制和测试了一种用于准确测量射频和微波谐振电路的谐振频率和Q值的计算机控制的自动系统。在此系统中,谐振曲线的拐点利用联机数字计算机通过数学计算过程进行识别,并利用它计算谐振频率和Q值。这个系统的主重优点是它的结果与谐振电路谐振频率的性能无关,与信号源的3dB点、幅度、频率漂移无关。也与检测器的不稳定性无关。设计、安装并测试了一种在1—2千兆赫之间工作的试验系统,用实验室小型计算机PDP11/34进行数据采集与处理以及对整个系统的控制。Q值的测量范围在100—1500之间,估计的谐振频率的不确定度为40ppm,Q值为1000的谐振电路的Q值的不确定度为百分之七。     

电介质材料射频电参数校准系统的组建

在介绍电介质材料电参数测量方法的基础上,研究了电介质材料1MHz-1GHz射频电参数量值溯源和测量方案：采用自行研制谐振法校准装置和（射频Ⅰ-Ⅴ法和自动平衡电桥法）商用仪器组建电介质材料射频电参数校准系统。介绍了系统基本原理,阐述了谐振法校准装置电极系统结构设计特点,分析了校准系统的测量不确定度。     

使用反射系数电桥的谐振器自动测量系统

为了精确确定石英晶体谐振器的等效电路参数,已研制出一种自动测量系统。该系统的主要部分是 HP4191A 射频阻抗分析仪,它是一种使用反射系数电桥而频率范围为1到1000MHz 的可程控仪器。通过使用合格的阻抗标准,就可以使测量结果溯源于国家标准。完整的测量系统由阻抗分析仪、可程控频率综合器和合适的控制器组成。已经制作出一种专用设备来提供标准的晶体组件。介绍了该系统的硬件和主要软件的特点,并且给出了测量例子。除了测量等效电路参数外,此系统还允许用一个模拟负载电容来测量谐振频率和电阻。也可以测量寄生模的参数。此系统还适用于 SAW 谐振器以及体波谐振器的测量。     

2—6GH_z通过式波长表的设计

一、概述在微波测量中,波长和频率是基本参数之一。前者属于长度的测量,后者属于时间测量。频率测量精确度高,但采用波长表测量波长具有设备简单、测量速度快、价廉等优点。因此,在不需要太高准确度的测量中仍被广泛应用。此外,通过式波长计还可用在谐振发生器中作为予选器,在测试系统中用作滤波器。     

自由空间法测试材料电磁参数的探讨

简单介绍几种常用的微波材料电磁特性参数测试方法,在对比各种测试方法的基础上,提出了自由空间法测试材料的电磁参数,对该测试方法进行理论分析和推导,分别从校准质量、测试精度、误差来源等方面证明该方法在材料电磁参数测试应用中的优越性。