首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
相似文献
 共查询到14条相似文献,搜索用时 15 毫秒
1.
本文首先简要介绍了L-SA及天线的结构以及系统的组成,其次介绍了采用平面近场扫描的方法,对其T/R组件失效“诊断”实验的情况。在分别T/R组件全部正常工作情况下,和已知有几个T/R组件失效情况下,对天线进行了模拟测试。利用近场到天线口面场反演技术,得到了天线的口面场分布,实现了对T/R组件失效情况的“诊断”。其结果与已知情况相符。  相似文献   

2.
本文首先简要介绍了L-SAR天线的结构以及系统的组成,其次介绍了采用平面近场扫描的方法,对其T/R组件失效“诊断“实验的情况.在分别T/R组件全部正常工作情况下,和已知有几个T/R组件失效情况下,对天线进行了模拟测试.利用近场到天线口面场反演技术,得到了天线的口面场分布,实现了对T/R组件失效情况的“诊断“.其结果与已知情况相符.  相似文献   

3.
天线平面近场测量系统发展概况   总被引:1,自引:0,他引:1  
本文简要叙述了天线平面近场测量技术的发展历史,对国外平面近场测量系统作了简要介绍,列举了国外平面近场扫描系统的分布以及平面近场扫描架的尺寸,对国内平面近场扫描架的现状也作了简要叙述,重点介绍了我所平面近场扫描架的结构、尺寸、软件以及使用情况。  相似文献   

4.
文章提出了一种运用于平面近场测试时可以缩短测试时间的数学插值方法。给出了该插值方法的推导过程和运用实例,对结果进行比较分析,证明了此数值方法的有效性。  相似文献   

5.
首先介绍了暗室中主要的误差项,然后通过实际测试的方式,分析了其中四项误差对超低副瓣天线-50dB副瓣的不确定度.结果对超低副瓣天线副瓣的误差分析有一定的参考意义,有助于天线设计师了解超低副瓣天线测试中误差项对副瓣的影响量级.  相似文献   

6.
7.
文章提出了两种对含变频器天线的近场测试方法,重点关注了射频系统的连接布局,并简要分析了各方案的可行性、优缺点及应用情况。  相似文献   

8.
传统的天线测试技术已趋成熟,这些系统主要由扫描架与转台构成,体量大且造价相对高昂.而随着人工智能技术和制造水平的巨幅提升,机械臂产业已得到广泛应用,利用高精度机械臂代替扫描架与伺服控制,加之数据后处理算法,开创了天线测试领域的新纪元.研究的基于智能机械臂的任意曲面天线测试系统为国内天线测试领域的首例实践,可实现任意扫描...  相似文献   

9.
简述了国外机载相控阵火控雷达的研制情况,比较了无源及有源阵列天线的性能,提出有源相控阵是机载火控雷达的发展方向。侧重介绍有源相控阵的关键器件-固态收/发组件的技术发展状况,  相似文献   

10.
王晨  阎鲁滨 《航天器工程》2009,18(4):94-101
对缝隙耦合平面反射阵天线的扫描特性进行了研究,给出了以弗洛盖模求解平面反射阵反射相位的理论思路。通过模拟计算得到了缝隙耦合微带贴片单元的反射相位曲线;计算了16元平面反射阵对平面波的波束扫描特性;具体设计了30个单元的平面反射阵天线。仿真结果证明平面反射阵天线可以实现±40°波束扫描。  相似文献   

11.
BosuiLiu  杨华淑 《空载雷达》2002,(4):34-36,33
已着手为共形相控阵列技术的可行性研究开发一种基本型X波段三维集成电路(3D-IC)/微电机械系统(MEMS)微波传导模块。用微电子和MEMS加工技术的创新结合作为开发3D-IC加工技术的方法。探讨了可分布于各种任意面的最小模块厚度所必须进行的技术改进。研究初期,作为验证工具,设计、加工了一种基本型无源传导模块并对其作了说明。  相似文献   

12.
星载SAR性能与T/R组件不一致性的关系   总被引:1,自引:0,他引:1  
本文分析了T/R组件幅相不一致性对星载SAR雷达系统性能的影响,T/R组件不一致性对星载SAR雷达天线副瓣电平有一定的影响。由于天钱的融瓣电平是不同频率信号贡献的平均值,所以天线的副瓣电平的大小依赖平均T/R组件不一致性。  相似文献   

13.
对“过程监视和测量”的理解和实施   总被引:1,自引:0,他引:1  
GB/T19001—2000标准的8.2.3条款“过程监视和测量”,我认为是2000版中非常重要和有用的条款,它是针对标准4.1“总要求”之e)“监视、测量和分析这些过程”的要求而设立的条款.因此,该条款是要求组织对4.1a)“已识别的所有过程进行监视和测量,通过监视和测量来确定组织是否具有对各过程实施有效控制的能力”.  相似文献   

14.
介绍了三种MMIC芯片的设计和测量结果。这些芯片包括T/R转换开关、多位衰减器、多位移相器、放大器和LVTTL逻辑电路,用于测试S、C和X波段相控阵雷达系统。这组芯片采用标准pHEMT工艺,显示出良好的初通结果:RMS衰减器和相位误差小、增益变化小和平均50%的RF指标一次通过率。对设计和工艺做一些调整。相信未来的芯片生产实现70%的RF指标合格率是可能的,因而这组芯片对低成本相控阵T/R模块是非常具有吸引力的。  相似文献   

设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号