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包带低冲击装置冲击试验及数据分析
引用本文:韩晓健, 焦安超, 王 睿. 包带低冲击装置冲击试验及数据分析[J]. 航天器环境工程, 2007, 24(5): 321-318.
作者姓名:韩晓健  焦安超  王 睿
作者单位:1.北京卫星环境工程研究所,北京 100094
摘    要:文章主要阐述了包带低冲击装置冲击试验的过程及采用的试验技术,并对试验数据进行了处理和分析。通过大量的试验数据,对响应量级与测量点的位置分布、响应与包带预紧力的关系、冲击响应与装药量的关系、冲击响应与起爆器的关系、冲击响应的频率分布关系以及安装方式对试验结果产生的影响作了充分的分析。结果可为研究低冲击装置提供有价值的参考。

关 键 词:冲击试验;结构响应;数据处理
文章编号:1673-1379(2007)05-0318-04
收稿时间:2007-03-28
修稿时间:2007-03-28

Shock tests for low shock device of wrapping band and related data processing
Han Xiaojian,Jiao Anchao,Wang Rui. Shock tests for low shock device of wrapping band and related data processing[J]. Spacecraft Environment Engineering, 2007, 24(5): 321-318
Authors:Han Xiaojian  Jiao Anchao  Wang Rui
Abstract:This paper discusses the process of shock tests for low shock device.Test data analyses are carried out in six aspects,including the relation between response levels and measurement points distribution,the relation between impact responses and the pretension force,the relation between impact responses and the amount of powder,the relation between impact responses and the burst device,the frequency distribution of the impact responses,and the effects of different fixing modes.The result can provide useful information for study on low shock devices.
Keywords:shock test  structure response  data processing and analysis
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