刻线量规的设计、制造与测量 |
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引用本文: | 刘兴富.刻线量规的设计、制造与测量[J].宇航计测技术,1995,15(4):24-29. |
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作者姓名: | 刘兴富 |
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作者单位: | 浙江慈溪汇丽机电实业总公司 |
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摘 要: | 通过将量规刻线的中心间距标注改为异名边间距标注之后,统一了刻线量规的设计基准与测量基准,消除了设计基准与测量基准的不一致,从而缩小了被测工件公差的影响。并且,通过由刻线深度控制刻线宽度的方法,实现了刻线量规异名边间距的精密刻线,从而打破了刻线量规不能用于公差小于0.5mm工件测量的禁区,扩大了刻线量规的应用范围。
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关 键 词: | 量规 刻度工艺 设计 参数 |
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