微波下介质的介电损耗测试与误差分析 |
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引用本文: | 邱刚,陈化松.微波下介质的介电损耗测试与误差分析[J].宇航计测技术,1983(1). |
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作者姓名: | 邱刚 陈化松 |
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摘 要: | 本文介绍了一种改进的E010柱形谐振腔近似法测试微波铁氧体材料复介电常数的测试系统。由于在系统中采用了谐波混频和锁相技术,抑制了微波源的寄生调频,消除了稳态的剩余频差,而使源的频率稳定度达1×10~(-8)/小时。同时,在系统中利用双通道零示法克服了微波源输出辐度不稳定对测试的影响。测试精度提高了近十倍。本文还对测试系统做了较详细的误差分析,并给出了误差公式和实验的测试数据。当测试灵敏度为tanδε≈5×10~(-4)时,其精度优于±3%。
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