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表面结构的MOTIF参数表征
引用本文:李成贵.表面结构的MOTIF参数表征[J].宇航计测技术,2001,21(4):16-21.
作者姓名:李成贵
作者单位:北京航空航天大学自动化学院测控系,
摘    要:工程表面结构的粗糙度和波纹度之间一直没有明确的界限,而它们的产生原因及对零件表面性能的影响却是不同的.最近被国际标准所采纳的莫逖夫法(MOTIF)则提供了一种可供选择的分离未滤波轮廓的粗糙度和波度的新方法.对MOTIF法的基本概念、参数和表征方式作了初步的研究,并对几种传统的精加工方式加工的样块表面特征进行了描述.

关 键 词:表面粗糙度  表面结构  MOTIF参数
修稿时间:2001年1月31日

Characterization of surface texture by MOTIF parameters
Li Chenggui.Characterization of surface texture by MOTIF parameters[J].Journal of Astronautic Metrology and Measurement,2001,21(4):16-21.
Authors:Li Chenggui
Institution:Li Chenggui
Abstract:For a long time, there are no determinate limit between roughness and waviness of engineering surfaces, but their effects on the surface performance are different entirely. The MOTIF method, adopted by ISO and widely used recently, offers an alternative evaluation to separate roughness and waviness based on unfiltered profile. Introduces the basic concepts and counting methods for MOTIF parameters briefly. Gives some experiment results on precision machined specimens.
Keywords:Surface roughness      Surface texture      MOTIF parameter  
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