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| 宇航计测技术1982年—1983年总目录(总第1-第12期) | |
| 摘 要： | (总第i一第12期)1 9 82年 计量技术影响多边棱体使用精度的几个因素…(i)内径球体半径测量与检具········一,二(7)低温铂电阻温度计的两点分度法……(10)‘带热电式二位PID调节的热电偶检定 炉···························,·····..·……(20)用传递法检定频率测量装置1·..··……(23)用比较法测量小电容···“········“……(41)测量高阻损耗材料在高频下的电容和 电阻的新方法·····················……(33) 计盘标准及仪器设备热流测量系统概述,··”···… |
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