| 基于灰色理论的失效机理一致性检验方法 |
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| 引用本文： | 姚军,王欢,苏泉.基于灰色理论的失效机理一致性检验方法[J].北京航空航天大学学报,2013,39(6). |
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| 作者姓名： | 姚军 王欢 苏泉 |
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| 作者单位： | 北京航空航天大学可靠性与系统工程学院,北京,100191 |
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| 摘 要： | 针对基于加速模型参数不变、基于统计方法及基于试验观察3种常见的失效机理一致性检验方法进行研究,发现3种方法均需要加速试验数据来对失效机理一致性进行检验,不能事先为加速试验提供理论指导；提出了一种基于灰色理论的失效机理一致性检验方法,该方法可用预试验数据进行失效机理一致性检验,为加速试验制定最高应力台阶提供理论指导；结合某型光电编码器预试验数据对该方法进行实例验证,得出175℃附近为失效机理变化点,并与基于统计的方法进行对比；最后,对产品进行失效机理分析,利用扫描电镜分析(SEM,Scanning Electron Microscope)结果验证该方法的正确性.
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| 关 键 词： | 灰色理论 失效机理 一致性检验方法 发光二极管 光敏三极管 |
Consistency identification method of failure mechanism based on grey theory |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | grey theory failure mechanism consistency identification method light-emitting diode phototransistor |
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