| 电阻抗成像技术的原理及其发展 |
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| 引用本文： | 程吉宽.电阻抗成像技术的原理及其发展[J].北京航空航天大学学报,1998,24(2):9600. |
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| 作者姓名： | 程吉宽 |
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| 作者单位： | 北京航空航天大学电子工程系 |
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| 摘 要： | 介绍了一种新的图像重建技术———电阻抗成像（ＥＩＴ）技术．它根据物体内部不同物质的导电参数（如电阻率、电容率）的不同，通过对物体表面电流、电压的施加及测量来获知物体内部导电参数的分布，进而重建出反映物体内部结构的图像．作为一个数学物理反问题，ＥＩＴ技术具有其本身的特点和难点，因而目前还处于探索性研究阶段．本文在ＥＩＴ数学物理模型基础上对整个ＥＩＴ技术作了较为全面的介绍，包括理论原理、技术上的难点、系统分析、以及目前国际国内的研究现况和研究方向．通过对ＡＣＴ３的介绍，对ＥＩＴ系统的具体实现也做了简要分析．
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| 关 键 词： | 图像处理 重建 数据采集 反问题 电阻抗成像（EIT） |
电阻抗成像技术的原理及其发展 |
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| .电阻抗成像技术的原理及其发展[J].Journal of Beijing University of Aeronautics and Astronautics,1998,24(2):9600. |
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