| 通用ATE开关资源测试路径模型及应用 |
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| 引用本文： | 赵瑞贤,孟晓风,王国华.通用ATE开关资源测试路径模型及应用[J].北京航空航天大学学报,2006,32(2):181-185. |
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| 作者姓名： | 赵瑞贤 孟晓风 王国华 |
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| 作者单位： | 北京航空航天大学 仪器科学与光电工程学院, 北京 100083 |
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| 摘 要： | 针对自动测试设备(ATE)测试程序开发中的开关资源测试路径搜索复杂、冲突判断困难、管理难度大等问题,提出了通用ATE开关资源测试路径模型,给出了模型的构造方法和多开关资源级联的级联算法,介绍了模型的具体应用.模型实现了ATE测试过程中开关资源测试路径冲突判断、最佳测试路径自动搜索、测试路径故障隔离、测试程序与具体测试路径硬件资源无关.提高了测试程序(TP)的通用性和可移植性,降低了TP开发的工作量.
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| 关 键 词： | 自动测试设备 测试路径 开关 优化 路径冲突 |
| 文章编号： | 1001-5965(2006)02-0181-05 |
| 收稿时间： | 2004-12-03 |
| 修稿时间： | 2004年12月3日 |
General-utility testing path model of switches for ATE and application |
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| Zhao Ruixian,Meng Xiaofeng,Wang Guohua.General-utility testing path model of switches for ATE and application[J].Journal of Beijing University of Aeronautics and Astronautics,2006,32(2):181-185. |
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| Authors: | Zhao Ruixian Meng Xiaofeng Wang Guohua |
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| Institution: | School of Instrument Science and Opto-electronics Engineering, Beijing University of Aeronautics and Astronautics, Beijing 100083, China |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | automation testing equipment testing path switches optimization path conflict |
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