| SRAM型FPGA的抗SEU方法研究 |
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| 引用本文： | 黄影,张春元,刘东.SRAM型FPGA的抗SEU方法研究[J].中国空间科学技术,2007,27(4):57-65. |
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| 作者姓名： | 黄影 张春元 刘东 |
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| 作者单位： | 国防科学技术大学计算机学院,长沙,410073 |
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| 基金项目： | 国家重点基础研究发展计划(973计划) |
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| 摘 要： | 通过分析静态随机访问存储器(Static Random Access Memorg,SRAM)型现场可编程门阵列(Field Programable Gate Array,FPGA)遭受空间单粒子翻转(SEU)效应的影响,并比较几种常见的抗SEU技术:三模冗余(Triple Module Redwcdancy,TMR)、纠错码(Error Correction Code,ECC)和擦洗(Scrubbing),提出了一种硬件、时间冗余相结合的基于双模块冗余比较的抗SEU设计方法。在FPGA平台上对线性反馈移位寄存器(Linear Feedback Shift Register,LFSR)逻辑进行软件仿真的抗SEU验证实现,将各种容错设计方法实现后获得的实验数据进行分析比较。结果表明,64阶LFSR的抗SEU容错开销与基于硬件的TMR方法相比,可以节省92%的冗余逻辑资源;与基于时间的TMR相比,附加时间延迟缩短26%。
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| 关 键 词： | 单粒子翻转 现场可编程门阵列 三模冗余 错误代码校验 空间电子干扰 |
| 修稿时间： | 2006-06-16 |
Research on SEU Mitigation of FPGA Based-on SRAM |
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| Huang Ying,Zhang Chunyuan,Liu Dong.Research on SEU Mitigation of FPGA Based-on SRAM[J].Chinese Space Science and Technology,2007,27(4):57-65. |
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| Authors: | Huang Ying Zhang Chunyuan Liu Dong |
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| Institution: | School of Computer Science, National University of Defense Technology, Changsha 410073 |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | Single event upset Field programmable gate array Triple module redundancy Error code correction Space electronic warfare |
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