| 电离辐照诱发面阵电荷耦合器暗信号增大试验 |
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| 引用本文： | 王祖军,罗通顶,杨少华,刘敏波,盛江坤.电离辐照诱发面阵电荷耦合器暗信号增大试验[J].中国空间科学技术,2014,34(4). |
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| 作者姓名： | 王祖军 罗通顶 杨少华 刘敏波 盛江坤 |
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| 作者单位： | 西北核技术研究所强脉冲辐射环境模拟与效应国家重点实验室,西安,710024 |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金，国家重点试验室基金 |
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| 摘 要： | 针对电荷耦合器件(CCD)在空间轨道环境中应用时易受到辐射损伤的影响,对面阵CCD的电离辐照损伤效应问题进行了试验研究.首先,通过开展面阵CCD60 Co γ射线电离辐照效应试验,在暗场条件下测试了面阵CCD辐照后输出信号随积分时间的变化,并拟合计算出暗信号斜率.然后,对比分析了不同偏置条件下辐照后暗信号退化的试验规律;分析了不同偏置条件下辐照后暗信号的退火恢复情况;分析了不同积分时间、不同总剂量下的暗信号不均匀性的变化规律.最后,阐述了电离辐照损伤诱发面阵CCD暗信号增大的物理机制.结果表明:面阵CCD对电离辐照损伤很敏感,在进行航天器成像系统设计时,要充分考虑CCD受电离辐照损伤带来的影响.
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| 关 键 词： | 面阵电荷耦合器件 电离辐照 暗信号 退火 空间轨道环境 |
Experiment of Ionizing Radiation Induced Array Charge Coupled Devices Dark Signal Increase |
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| WANG Zujun,LUO Tongding,YANG Shaohua,LIU Minbo,SHENG Jiangkun.Experiment of Ionizing Radiation Induced Array Charge Coupled Devices Dark Signal Increase[J].Chinese Space Science and Technology,2014,34(4). |
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| Authors: | WANG Zujun LUO Tongding YANG Shaohua LIU Minbo SHENG Jiangkun |
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| Keywords: | Array charge coupled device Ionizing radiation Dark signal Anneal Space orbit environment |
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