| 1996-2003年大耀斑事件引起的TEC突然增强的统计分析 |
| |
| 引用本文： | 陈斌,刘立波,万卫星,宁百齐,丁锋.1996-2003年大耀斑事件引起的TEC突然增强的统计分析[J].空间科学学报,2005,25(1):6-16. |
| |
| 作者姓名： | 陈斌 刘立波 万卫星 宁百齐 丁锋 |
| |
| 作者单位： | 1. 中国科学院地质与地球物理研究所,北京,100029;中国科学院武汉物理与数学研究所;中国科学院研究生院
2. 中国科学院地质与地球物理研究所,北京,100029 |
| |
| 基金项目： | 国家自然科学基金(40134020,40274054),中国科学院创新方向性项目(KZCX3-SW-144)和国家重点基础研究规划项目(G2000078407)共同资助 |
| |
| 摘 要： | 利用1996—2003年期间GOES卫星耀斑观测资料和国际GPS观测网的GPS—TEC资料分析X级大耀斑事件引起的电离层电子浓度总含量(TEC)的突然增强(SITEC)现象．对X射线耀斑等级、耀斑日面位置与SITEC的关系进行了分析．结果表明，两者都与SITEC现象的强弱有着一定的正相关性．在消除X射线耀斑等级、耀斑日面位置对电离层SITEC现象的影响后，进而分析了日地距离以及耀斑持续时间对电离层SITEC现象的影响．结果表明，日地距离和耀斑持续时间都是影响SITEC现象的重要参数，日地距离较近时发生的耀斑事件引起的SITEC现象较为强烈．另外，耀斑持续时间越长，SITEC现象越微弱，但是当耀斑持续时间继续延长时，SITEC现象的强弱逐渐趋于不再改变，最后在某值附近达到平衡．还对某些没有在电离层中引起明显SITEC现象的耀斑事件进行了讨论，发现了这类耀斑的一些特征．
|
| 关 键 词： | 耀斑 电离层 TEC 持续时间 GPS观测 观测资料 距离 影响 现象 改变 |
| 文章编号： | 0254-6124-2005-025(01)-0006-11 |
A Statistical Analysis of SITEC Caused by Intense Solar Flares During 1996-2003 |
| |
| CHEN Bin.A Statistical Analysis of SITEC Caused by Intense Solar Flares During 1996-2003[J].Chinese Journal of Space Science,2005,25(1):6-16. |
| |
| Authors: | CHEN Bin |
| |
| Abstract: | |
| |
| Keywords: | Solar flares Total electron content (TEC) Global position system (GPS) |
| 本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录！ |
