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| 全定制芯片的测试码产生方法 | |
| 引用本文： | 邓勤学,李少青,陈绥阳.全定制芯片的测试码产生方法[J].航空计算技术,2008,38(6):92-94,98. |
| 作者姓名： | 邓勤学 李少青 陈绥阳 |
| 作者单位： | 1. 国防科学技术大学,湖南,长沙,410073;西安思源学院,陕西,西安,710038 2. 国防科学技术大学,湖南,长沙,410073 3. 西安交通大学,陕西,西安,710049 |
| 摘 要： | 针对全定制设计的芯片提出人工产生测试码的方法.该方法充分利用功能验证程序,从中挑选出对测试有用的信息,经过转换得到满足基本故障覆盖的测试码;再结合芯片自身的结构特点,合理利用芯片内部的调试结构,并按功能部件利用调试链路追加测试码,从而补充完善得到比较完备的测试码. |
| 关 键 词： | 测试码产生 功能码 调试链路 |
A Method of Test Pattern Generation by Using Functional Code |
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| DENG Qin-xue,LI Shao-qing,CHEN Sui-yang.A Method of Test Pattern Generation by Using Functional Code[J].Aeronautical Computer Technique,2008,38(6):92-94,98. | |
| Authors: | DENG Qin-xue LI Shao-qing CHEN Sui-yang |
| Abstract: | In this paper,a method of test pattern generation is proposed.This method can use the functional verification programs efficiently,select the useful information for testing from the functional verification procedures,and transform them into test patterns to complete the basic fault coverage.And at the same time,the testing structure is fully made use of to perfect the test patterns and improve the fault coverage. |
| Keywords: | test pattern generation functional code debugging chain |
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