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MIL—STD—1750A的检验测试
引用本文:LuisE·Veliz,刘茴.MIL—STD—1750A的检验测试[J].航空计算技术,1987(1).
作者姓名:LuisE·Veliz  刘茴
摘    要:本文描述了计算机正确实现 MIL—STD—1750A 结构规范的理由和重要性。文中叙述了简要的检验史。描述了现有的测试方法,包括测试过程,结果分析及试验报告。最后讨论了将来的检验测试方法。 STD—1553数据总线。多指令系统结构的扩增问题导致多硬件和软件系统,从而导致软件费用高使用 MIL—STD—1750A ISA,我们可以降低软件成本。缩短软件研制时间,并促使工业使用新技术,使用ATP 作为检验测试工具,确保结构与 MIL—STD—1750A的兼容性,使上述优点成为可能。当检验过程在1983年第3季度使用时。将通过使用 VSW 使之增强。刘茴译刘花校

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