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| 微计算机控制的数字集成电路测试系统 | |
| 引用本文： | GARYL WEST,H·TROY NAGLE·JR,VICTOR P、NELSON,屈风兰.微计算机控制的数字集成电路测试系统[J].航空计算技术,1982(3). |
| 作者姓名： | GARYL WEST H·TROY NAGLE·JR VICTOR P、NELSON 屈风兰 |
| 摘 要： | 测试系统一电气、电子工程师学会会员 GARYL WEST ,前电气、电子工程师学会会员 H.TROY NAGLE,JR,和电气、电子工程师学会会员 VICTOR P.NELSON.提要:本文叙述一个用 Intel 8080型微计算机系列进行设计,并付诸实现的廉价的数字集成电路测试器。用存贮器中存贮的检查表,必要时可同适当的时钟伩号一起,把测试模型加到每块要测试的集成电路上。然后检查所得芯片吸附状态出现 |