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| IC的可靠性 | |
| 引用本文： | 王舸.IC的可靠性[J].航空计算技术,1976(2). |
| 作者姓名： | 王舸 |
| 摘 要： | 一、绪言: 近年来,各种IC已被广泛地应用于电子计测设备,应用于运算放大器及调节器的主要有DTL,TTL;FET有时被用于变换器。总起来看使用IC的计测设备可靠性高性能稳定这是因为使用的IC具有较长的寿命,也正因为这一点DTL与TTL已有相当市场。特别是TIL由于价格低廉而被受到广泛地重视。虽说使用IC的设备对环境条件的要求比较高,需要有良好的空调空间,这一点远远超过其它民用设备。但是随着各种计测设备的进一步IC化,亦即IC的应用范围进 |
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