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电位法测量微缺口试样的数值分析
引用本文:杨迪迪,施祎,杨晓光,苗国磊,石多奇.电位法测量微缺口试样的数值分析[J].推进技术,2020,41(7).
作者姓名:杨迪迪  施祎  杨晓光  苗国磊  石多奇
作者单位:北京航空航天大学,北京航空航天大学 能源与动力工程学院,北京航空航天大学,成都航利(集团)实业有限公司,北京航空航天大学 能源与动力工程学院
基金项目:“基于夹杂致裂微裂纹扩展的粉末合金寿命多尺度预测方法”(51775019)以及国家重点基础研究发展计划(973计划)项目“航空发动机运行安全基础研究”(2015CB057401)以及对本研究的资助。
摘    要:疲劳寿命受到材料内部缺陷的制约,可以通过电位法试验获得微缺口试样的疲劳裂纹扩展规律,进而分析缺陷对材料疲劳寿命的影响。在试验前,需要预先研究试验的主要影响因素。利用COMSOL有限元软件,研究了电流输入点位置和电势差测点位置对试验精度和试验复现性的影响,计算得到不同裂纹前缘形状对应的电位法校核曲线。结果表明:(1)电流输入点位置位于试样平行于裂纹面的上下表面时,可以保证试验的复现性。(2)当测点位于裂纹面的垂直对称面上,且测点距离裂纹面垂直距离为0.06~0.1倍试样宽度时,可以同时满足测试精度和复现性。(3)当裂纹宽度和裂纹深度的比值3时,可以不考虑裂纹前缘形状对校核曲线的影响,当裂纹宽度和裂纹深度的比值≤3时,裂纹前缘形状对校核曲线的影响较大。

关 键 词:微缺口试样  有限元计算  电位法  测点位置  校准曲线
收稿时间:2019/3/18 0:00:00
修稿时间:2020/6/3 0:00:00

The Numerical Analysis of Potential Drop Test on Micro-notched Specimen
Institution:Beihang University,,Beihang University,,
Abstract:
Keywords:Micro-notched specimen  Numerical Analysis  Potential Drop method  Probe position  calibration curve
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