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基于边界扫描的板级BIT技术研究现状及发展趋势
引用本文:温熙森,刘冠军,黎琼炜,易晓山.基于边界扫描的板级BIT技术研究现状及发展趋势[J].航空计测技术,1999,19(3):38-41.
作者姓名:温熙森  刘冠军  黎琼炜  易晓山
作者单位:国防科技大学智能监控与故障诊断研究室!湖南省长沙市,410073
基金项目::“九五”国防预研项目支持
摘    要:简要介绍了边界扫描技术,并介绍了基于边界扫描的电路板BIT技术的研究现状,然后分析了目前此技术存在的关键问题和发展趋势。

关 键 词:边界扫描  板级BIT  混合技术电路板
修稿时间:1998-09-10
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