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基于不同光路仪器的平晶表面形状判断方法探讨
引用本文:宫美望.基于不同光路仪器的平晶表面形状判断方法探讨[J].航空计测技术,2009,29(1):49-51.
作者姓名:宫美望
作者单位:青岛市计量测试所,山东,青岛,266071  
摘    要:讨论了在不同光路的仪器上,平晶表面形状的判断方法。具体分析了加压分析判断法的应用技巧,了解其原理,灵活运用;说明了阶跃温升法的通用性,介绍了该方法对于一级平晶表面形状判断的优势;介绍了试测分析判断法的参考价值,说明其适用范围。

关 键 词:平晶表面形状  加压分析判断法  阶跃温升法  平面等厚干涉仪  激光平面等厚干涉仪
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
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