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粗糙表面轮廓谱的耦合性分析
引用本文:李成贵.粗糙表面轮廓谱的耦合性分析[J].航空计测技术,2003,23(4):9-12.
作者姓名:李成贵
作者单位:北京航空航天大学自动化学院测控系 北京100083
摘    要:双谱估计是分析随机信号的二次相位耦合、非线性、非对称性等特征的有效方法,但存在计算量庞大,估计精度较差,显示不够直观等缺点。本文提出了一种改进的对角线切片谱分析方法,并把它用于粗糙表面轮廓的非线性和耦合性特征分析。通过理论仿真研究和实验分析,结果表明这种方法简单、合理,而且有可能揭示加工过程中引起表面粗糙度间距和高度参数变化的原因。

关 键 词:双谱  表面轮廓  粗糙度  耦合性  对角线切片谱  仿真
文章编号:1002-6061(2003)04-0009-04
修稿时间:2003年2月10日

Analyzing the Phase Coupling of Rough Surface Profile Spectrum
LI Cheng,gui.Analyzing the Phase Coupling of Rough Surface Profile Spectrum[J].Aviation Metrology & Measurement Technology,2003,23(4):9-12.
Authors:LI Cheng  gui
Abstract:Bispectrum is an available method to analyze the quadratic phase coupling, non linearity and asymmetry of stochastic signal,whereas it has some obviously shortcomings,such as complex computation,lower estimation exactness and inconvenient vision.The ameliorated method of diagonal slice spectrum analysis is presented and used to characterize the skewness and phase coupling of the rough surface profiles.The experiment results show that the diagonal slice spectrum analysis technique is simple, effective and reasonable, and that it is possible to explain the change of rough surface spacing and amplitude parameter.
Keywords:roughness  bispectrum  diagonal slice spectrum  spectrum analysis
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