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| 谈谈材料的ε_r和tgδ的测试——介绍一种高精度宽频带的ε_r、tgδ测试装置 | |
| 引用本文： | 刘松茂.谈谈材料的ε_r和tgδ的测试——介绍一种高精度宽频带的ε_r、tgδ测试装置[J].宇航材料工艺,1993(3). |
| 作者姓名： | 刘松茂 |
| 作者单位： | 航空航天部699厂 |
| 摘 要： | 本文介绍了测试材料的相对介电常数ε_r和损耗因数D(tgδ)的重要意义,概述了我国这方面的现状,介绍一种高精度宽频带的测试仪器——HP4284ALCR仪。最后讨论了测试中的一些主要问题,并附有六种材料的ε_r和D的频率特性曲线。 |
| 关 键 词： | 相对介电常数 损耗因数 测试 |
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