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| 酚醛-涤纶的SIMS/AES表面分析 | |
| 引用本文： | 刘运祺,马盂甜,达晓宇.酚醛-涤纶的SIMS/AES表面分析[J].宇航材料工艺,1985(3). |
| 作者姓名： | 刘运祺 马盂甜 达晓宇 |
| 作者单位： | 兰州物理研究所 (刘运祺，马盂甜)，兰州物理研究所(达晓宇) |
| 摘 要： | 我们使用PHI595型扫描俄歇微探针(AES/SAM)2]和PHI3500型二次离子质谱仪(SIMS)对酚醛-涤纶材料在星体使用前后的表面形态及杂质进行了测试。由于SIMS的检测灵敏度极高,AES又具有极好的空间分辨力,所以两者结合是一种很好的表面检测组合形式。它适合于各种宇航材料的物理化学性能测试,亦可对各种表面处理工艺进行鉴定。在测试酚醛-涤纶这样的绝缘体时,尽管在测试中会有电荷积累,但由于采用了消电荷措施仍能给出满意的测试结果。 |
| 本文献已被 CNKI 等数据库收录！ | |