| 高Q 腔法与准光腔法用于毫米波段室温介电性能测试比对研究 |
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| 引用本文： | 陈聪慧.高Q 腔法与准光腔法用于毫米波段室温介电性能测试比对研究[J].宇航材料工艺,2013,43(2). |
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| 作者姓名： | 陈聪慧 |
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| 作者单位： | 1. 航天材料及工艺研究所,先进功能复合材料技术重点实验室,北京100076
2. 电子科技大学,成都,610054 |
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| 摘 要： | 介绍了用于毫米波段的介电性能测试的高Q腔法和准光腔法的原理及物理模型,并分别对其进行了仿真分析,建立了相应的测试装置,进行了空腔和石英玻璃的测试.结果表明,准光腔法要比高Q腔法在品质因数、可分辨的频点、样品尺寸、测试精度等方面更有优势.
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| 关 键 词： | 高Q腔法 准光腔法 毫米波段 介电性能 |
Comparison of High Q Cavity Method and Quasi-Optical Resonator Method Used in Dielectric Properties Testing at Millimeter Wave Band |
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| Chen Conghui
,
He Fengmei
,
Li En
,
Yang Jingxing.Comparison of High Q Cavity Method and Quasi-Optical Resonator Method Used in Dielectric Properties Testing at Millimeter Wave Band[J].Aerospace Materials & Technology,2013,43(2). |
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| Authors: | Chen Conghui He Fengmei Li En Yang Jingxing |
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| Institution: | Science and Technology on Advanced Functional Composites Laboratory,Aerospace Research Institute |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | High Q cavity method Quasi-optical resonator method Millimeter wave band Dielectric property |
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