| 进口集成电路的一种拆机翻新案例分析 |
| |
| 引用本文： | 马兆庆.进口集成电路的一种拆机翻新案例分析[J].宇航材料工艺,2014,44(5):76-79. |
| |
| 作者姓名： | 马兆庆 |
| |
| 作者单位： | 航天材料及工艺研究所,北京,100076 |
| |
| 摘 要： | 结合失效分析的实际案例,通过扫描电子显微镜、能谱分析、金相分析等手段,发现了将拆机进口集成电路的外引线重新焊接,并经简单的表面处理后,作为“崭新”集成电路的翻新手段.失效分析表明,这类失效模式通常只能在使用过程中发现,且具有批次性,潜在的危害十分严重.因此,在加强进口集成电路采购渠道、质量等级要求的同时,必须加快进口集成电路国产化的进程,才能进一步提高航天产品的质量可靠性.
|
| 关 键 词： | 进口集成电路 拆机翻新 案例分析 |
| 收稿时间： | 2014/4/23 0:00:00 |
Case Study of Renovating Used Imported Integrated Circuit |
| |
| MA Zhaoqing.Case Study of Renovating Used Imported Integrated Circuit[J].Aerospace Materials & Technology,2014,44(5):76-79. |
| |
| Authors: | MA Zhaoqing |
| |
| Institution: | Aerospace Research Institute of Materials & Processing Technology |
| |
| Abstract: | |
| |
| Keywords: | Imported integrated circuit Renovation Case study |
| 本文献已被 万方数据 等数据库收录！ |
| 点击此处可从《宇航材料工艺》浏览原始摘要信息 |
| 点击此处可从《宇航材料工艺》下载免费的PDF全文 |
|
