| TC11钛合金棒材和锻件的室温设计许用值计算 |
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| 引用本文： | 钟斌,马少俊,张仕朝.TC11钛合金棒材和锻件的室温设计许用值计算[J].航空动力学报,2020,35(10):2195-2204. |
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| 作者姓名： | 钟斌 马少俊 张仕朝 |
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| 作者单位： | 中国航空发动机集团有限公司北京航空材料研究院,北京100095;中国航空发动机集团有限公司北京航空材料研究院材料检测与评价重点实验室,北京100095;中国航空发动机集团有限公司北京航空材料研究院航空材料检测与评价北京市重点实验室,北京100095,中国航空发动机集团有限公司北京航空材料研究院,北京100095;中国航空发动机集团有限公司北京航空材料研究院材料检测与评价重点实验室,北京100095;中国航空发动机集团有限公司北京航空材料研究院航空材料检测与评价北京市重点实验室,北京100095,中国航空发动机集团有限公司北京航空材料研究院,北京100095;中国航空发动机集团有限公司北京航空材料研究院材料检测与评价重点实验室,北京100095;中国航空发动机集团有限公司北京航空材料研究院航空材料检测与评价北京市重点实验室,北京100095,中国航空发动机集团有限公司北京航空材料研究院,北京100095;中国航空发动机集团有限公司北京航空材料研究院材料检测与评价重点实验室,北京100095;中国航空发动机集团有限公司北京航空材料研究院航空材料检测与评价北京市重点实验室,北京100095,中国航空发动机集团有限公司湖南动力机械研究所,湖南株洲412002,中国航空发动机集团有限公司北京航空材料研究院,北京100095;中国航空发动机集团有限公司北京航空材料研究院材料检测与评价重点实验室,北京100095;中国航空发动机集团有限公司北京航空材料研究院航空材料检测与评价北京市重点实验室,北京100095 |
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| 摘 要： | 针对中-长寿命阶段热障涂层寿命预测精度与TGO(热生长氧化层)厚度测量方法分散性大和可执行性差的特点,基于数字图像处理(DIP)技术开发了一款用图形用户界面(GUI)程序,可以批量以及数字化地处理TGO层的形貌特征并且计算其厚度,满足航空发动机涂层结构件，如涡轮叶片热障涂层结构的更高精度和合理化的分析要求。通过和直接测量方法的结果对比表明:所发展的DIP方法避免了直接测量过程中的人为因素引进的分析误差因此更加合理。通过敏感性分析发现,热障涂层寿命对中-长寿命阶段时TGO厚度的变化敏感性极大,因此引进合理的TGO厚度量化技术可以提高该寿命阶段的涂层寿命预测精度,采用DIP技术得到的TGO厚度演化方程中的强化指数稳定在0.3,优于直接测量的数值(0.25~0.35)。
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| 关 键 词： | 设计许用值 A基准值 S基准值 TC11钛合金 拉伸强度 |
| 收稿时间： | 2020/1/17 0:00:00 |
Calculation of design allowable values for TC11 titanium bar and forging at room temperature |
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| ZHONG BIN,MA Shaojun,ZHANG Shichao.Calculation of design allowable values for TC11 titanium bar and forging at room temperature[J].Journal of Aerospace Power,2020,35(10):2195-2204. |
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| Authors: | ZHONG BIN MA Shaojun ZHANG Shichao |
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| Institution: | Aviation Maintenance Non-Commissioned Officer Academy,,Air Force Engineering University,Xinyang Henan 464000,China;;School of Aerospace Engineering,,Tsinghua University,Beijing 100084,China;; School of Materials Science and Engineering,,Beijing University of Aeronautics and Astronautics,Beijing 100191, China |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | EB-PVD(electron beam physical vapor deposition) thermal barrier coatings TGO(thermal growth oxide) thickness digital image processing technique binary sensitivity analysis |
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