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| 静电放电(ESD)的测试与ESD引起元器件失效的机理 | |
| 引用本文： | 谢易祥.静电放电(ESD)的测试与ESD引起元器件失效的机理[J].航空精密制造技术,1997(3). |
| 作者姓名： | 谢易祥 |
| 作者单位： | 成都航空仪表公司 |
| 摘 要： | 综述了辐射引起的ESD的预测，直接放电的ESD的预测．这些预测包括静电场、在敏感电路上的感应电压、在电线上ESD感应电压等的预测．同时还介绍了合适的屏蔽方法以改善ESD的影响以及引起元器件失效的机理． |
| 关 键 词： | 静电放电 静电放电敏感电路 静电放电预测 |
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