表面粗糙度的现状及发展 |
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引用本文: | 李成贵,董申.表面粗糙度的现状及发展[J].航空精密制造技术,1999,35(5). |
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作者姓名: | 李成贵 董申 |
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作者单位: | 哈尔滨工业大学!150001 |
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摘 要: | 讨论了表面粗糙度测量和表征中,一些人们感兴趣的有待解决的问题,如:基准、滤波、校准样块、评定软件和表征参数等.认为在3D表面分析中应采用数字滤波,以保留数据的完整性;辨析了现存测量仪器和方法的范围──分辨力空间图中的缺口;介绍了校准样块的制备和测量;同时指出当前评定软件缺乏一致性和标准性,建议设计“软件量规”.最后指出了表面特征分析的发展趋势.
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关 键 词: | 表面粗糙度 测量 表征 现状 |
修稿时间: | 1999-04) |
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