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| 磁力探伤缺陷性质的分析 | |
| 引用本文： | 刘树山.磁力探伤缺陷性质的分析[J].航空精密制造技术,1986(4). |
| 作者姓名： | 刘树山 |
| 摘 要： | 磁力探伤法广泛而有成效地用于工业领域的科研和生产部门的产品质量的检测中。它和其它无损探伤方法一样,目的都在于能够准确地发现材料和零部件中所存在的各种类型的缺陷。磁力探伤,是依据零件被磁化后磁粉在零件表面所显示的痕迹,判别零件是否存在缺陷,并根据缺陷磁粉痕迹的分布 |
| 本文献已被 CNKI 等数据库收录！ | |
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