|
|||||
|
|
| VLSI门级及功能级混合测试生成技术 | |
| 引用本文： | 赵战平.VLSI门级及功能级混合测试生成技术[J].航空精密制造技术,1992(6). |
| 作者姓名： | 赵战平 |
| 作者单位： | 飞行自动控制研究所 |
| 摘 要： | 介绍了混合形式自动测试图形生成技术,该技术将门级测试图形生成技术与在线路高一级抽象形式上进行测试生成技术相结合。利用该技术开发的自动测试生成程序在内附检测器自动植入模块后可用于VLSI线路的设计系统。 |
| 关 键 词： | 自动测试生成系统 门级测试生成 基本功能单元 并存错误检测(CED) |
| 本文献已被 CNKI 等数据库收录！ | |