整机产品加速贮存寿命试验研究思路探讨 |
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引用本文: | 林震,李宪姗,姜同敏,程永生,胡斌.整机产品加速贮存寿命试验研究思路探讨[J].航空标准化与质量,2006(4):38-41. |
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作者姓名: | 林震 李宪姗 姜同敏 程永生 胡斌 |
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作者单位: | 1. 中国工程物理研究院电子工程研究所,四川,绵阳,621900 2. 北京强度与环境研究所,北京,100076 3. 北京航空航天大学,北京,100083 |
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摘 要: | 介绍了整机产品加速贮存寿命试验技术的三种方法;转化法、性能参数退化法、利用可靠性增长理论并逐一分析研究.
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关 键 词: | 加速 薄弱环节 性能退化 可靠性增长 |
文章编号: | 1003-6660(2006)04-0038-04 |
修稿时间: | 2006年4月9日 |
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