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整机产品加速贮存寿命试验研究思路探讨
引用本文:林震,李宪姗,姜同敏,程永生,胡斌.整机产品加速贮存寿命试验研究思路探讨[J].航空标准化与质量,2006(4):38-41.
作者姓名:林震  李宪姗  姜同敏  程永生  胡斌
作者单位:1. 中国工程物理研究院电子工程研究所,四川,绵阳,621900
2. 北京强度与环境研究所,北京,100076
3. 北京航空航天大学,北京,100083
摘    要:介绍了整机产品加速贮存寿命试验技术的三种方法;转化法、性能参数退化法、利用可靠性增长理论并逐一分析研究.

关 键 词:加速  薄弱环节  性能退化  可靠性增长
文章编号:1003-6660(2006)04-0038-04
修稿时间:2006年4月9日
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