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氦光干涉仪
引用本文:俞智鑫.氦光干涉仪[J].航空制造技术,1981(6).
作者姓名:俞智鑫
作者单位:五一一厂工艺所
摘    要:一、概况用国产的激光干涉仪、平面测厚仪等可以满足精密零件平面不平度的测量要求。但由于仪器精密,结构复杂,调整困难,维护要求高,故只适用于计量单位作单件检测。目前在批生产中虽也应用光波干涉法来检测平而不平度,用平晶及普通光源照射,但其测量结果是不可靠的。存在两个问题:1.有时不显示干涉带纹,常需将平晶和零件推紧贴合,结果把两者

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