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X射线断层扫描在材料力学行为研究中的应用
摘 要:
X射线断层扫描可以无损地对材料内部的微观结构、缺陷及损伤进行三维成像,将其应用于材料的力学行为研究具有明显的优势。在文中作者结合研究经验和国内外大量文献,系统地介绍了X射线断层扫描的基本原理及其在损伤观测(实验研究)、全场测量和仿真分析等领域的应用,方便了解X射线断层扫描及其在材料力学行为研究中的应用方法。
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