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| 基于X射线CT和DVC方法的电子产品力学测量 | |
| 引用本文： | 王龙,贾洲侠,李志强,魏龙,侯传涛.基于X射线CT和DVC方法的电子产品力学测量[J].强度与环境,2019(1). |
| 作者姓名： | 王龙 贾洲侠 李志强 魏龙 侯传涛 |
| 作者单位： | 北京强度环境研究所可靠性与环境工程技术重点实验室 |
| 摘 要： | 本文总结了近年来国外综合X射线CT和DVC方法在运算电子器件、导弹引信、柔性电子、新型锂离子电池等电子产品力学参量测量中的成功应用。这种新的试验和测量方法不仅可以在无损的情况下对电子产品内部的力学场进行测量,还可以为开展基于真实结构的高保真精细化有限元分析提供依据,具有广阔的应用前景。 |
| 本文献已被 CNKI 等数据库收录！ | |