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| 电子产品可靠性预计方法及标准研究 | |
| 引用本文： | 徐静,侯传涛,李志强,冯国林.电子产品可靠性预计方法及标准研究[J].强度与环境,2020,47(5). |
| 作者姓名： | 徐静 侯传涛 李志强 冯国林 |
| 作者单位： | 北京强度环境研究所可靠性与环境工程技术重点实验室,北京 100076;北京强度环境研究所可靠性与环境工程技术重点实验室,北京 100076;北京强度环境研究所可靠性与环境工程技术重点实验室,北京 100076;北京强度环境研究所可靠性与环境工程技术重点实验室,北京 100076 |
| 摘 要： | |
| 关 键 词： | 电子产品 可靠性预计 基于手册 基于失效物理 |
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