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多重分形谱在材料分析中的应用研究
引用本文:李平,胡可乐,汪秉宏.多重分形谱在材料分析中的应用研究[J].南京航空航天大学学报,2004,36(1):77-81.
作者姓名:李平  胡可乐  汪秉宏
作者单位:1. 中国科学技术大学近代物理系及非线性科学中心,合肥,230026;南京工程学院基础部,南京,210013
2. 南京工程学院基础部,南京,210013
3. 中国科学技术大学近代物理系及非线性科学中心,合肥,230026
基金项目:国家重点基础研究发展( 973计划专项经费 )规划项目,国家自然科学基金 ( 19932 0 2 0 )资助项目,江苏省教育厅科研基金 ( 0 2 KJD14 0 0 15)资助项目,南京工程学院科研基金资助项目
摘    要:基于多重分形谱的物理意义,通过图像分析与处理技术,利用Delphi语言设计了图像结构的多重分形谱的计算程序。通过程序中图像黑白二值化转化阈值的设定,实现了从材料组织结构形貌图像上提取其相应的概率测度和标度指数的功能,并计算了它们的多重分形谱。分析表明:在对材料的组织结构进行研究的问题中,多重分形谱是一种有意义的表征参数,能够从多分形角度对材料的组织结构开展定量化的分析与解释。

关 键 词:多重分形谱  材料分析  计算程序  图像处理  Delphi语言  概率测度  金相组织结构
文章编号:1005-2615(2004)01-0077-05
修稿时间:2003年1月8日

Design and Application about Computing Program of Material Multifractal Spectrum
LI Ping ,HU Ke-le ,WANG Bing-hong.Design and Application about Computing Program of Material Multifractal Spectrum[J].Journal of Nanjing University of Aeronautics & Astronautics,2004,36(1):77-81.
Authors:LI Ping    HU Ke-le  WANG Bing-hong
Institution:LI Ping 1,2,HU Ke-le 2,WANG Bing-hong 1
Abstract:Based on the physical sense of multifractal spectrum and through picture analysis and processing technology for structural topography , the computing program of the multifractal spectrum is designed in Delphi langu age. Fixing the threshold values of topography alternation between black and whi te values the program can acquire the corresponding probability measure a nd scale ex ponent from the material structural topography and calculate their multifra ctal spectrum. In analyzing material structure, the multifractal spectrum is a c hara cteristic parameter which enables the quantitative analysis and explanation of m ater ial structure from multifractal perspective.
Keywords:fractal  multifractal spectrum  computing program  stru ctural topography
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