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碳化硅基直流固态断路器短路保护方法
引用本文:秦海鸿,莫玉斌,张英,杨跃茹,赵朝会.碳化硅基直流固态断路器短路保护方法[J].南京航空航天大学学报,2020,52(2):207-214.
作者姓名:秦海鸿  莫玉斌  张英  杨跃茹  赵朝会
作者单位:南京航空航天大学自动化学院,南京,211106;上海电机学院电气学院,上海,201306
基金项目:国家自然科学基金 51677089;中央高校基本科研业务费专项资金 NS2015039 NS20160047;南京航空航天大学研究生创新基地(实验室)开放基金 kfjj20170308国家自然科学基金(51677089)资助项目;中央高校基本科研业务费专项资金(NS2015039,NS20160047)资助项目;南京航空航天大学研究生创新基地(实验室)开放基金(kfjj20170308)资助项目。
摘    要:碳化硅器件比硅器件具有更低的导通电阻,用其制作直流固态断路器可以大大降低其通态损耗,减轻散热压力。然而相比于硅器件,由于碳化硅器件管芯面积小,电流密度大,其短路能力相对较弱,短路保护要求更高。为确保碳化硅器件安全可靠工作,提高碳化硅基直流固态断路器的可靠性,对比分析了硅基与碳化硅基MOSFET的短路能力,揭示了其器件恶化机理,研究了栅源极电压箝位方法,并结合去饱和检测,提出了一种基于源极寄生电感的"软关断"短路保护方法,制作了直流固态断路器样机进行实验验证。实验结果表明,所提方法可以降低功率器件的关断电压应力、抑制短路电流,适合碳化硅基直流固态断路器短路保护。

关 键 词:碳化硅  直流固态断路器  短路能力  短路保护
收稿时间:2018/7/27 0:00:00
修稿时间:2019/9/16 0:00:00

Short Circuit Protection Method of SiC Based DC Solid State Circuit Breaker
QIN Haihong,MO Yubin,ZHANG Ying,YANG Yueru,ZHAO Chaohui.Short Circuit Protection Method of SiC Based DC Solid State Circuit Breaker[J].Journal of Nanjing University of Aeronautics & Astronautics,2020,52(2):207-214.
Authors:QIN Haihong  MO Yubin  ZHANG Ying  YANG Yueru  ZHAO Chaohui
Institution:1.College of Automation Engineering, Nanjing University of Aeronautics & Astronautics, Nanjing, 211106, China;2.College of Electrical Engineering, Shanghai Dianji University, Shanghai, 201306, China
Abstract:
Keywords:silicon carbide  DC solid state circuit breaker  short circuit capability  short circuit protection
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