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航天元器件关键工艺的统计过程控制方法
引用本文:贾 彬,段 超.航天元器件关键工艺的统计过程控制方法[J].航天器环境工程,2012,29(2):227-230.
作者姓名:贾 彬  段 超
作者单位:中国空间技术研究院宇航物资保障事业部,北京100094
摘    要:文章以统计过程控制(SPC)中的均值—标准差(-R—R)控制图理论方法为基础,以宇航元器件关键工序中的集成电路键合拉力强度为研究对象,提出宇航元器件关键工序进行SPC的必要性,并提出以(-R—R)控制图作为质量工具对宇航元器件关键工艺进行质量监控的方法,计算出该关键工艺的过程能力指数。

关 键 词:统计过程控制  元器件工艺  二方审查  数据监控
收稿时间:2011/6/28 0:00:00
修稿时间:2012/3/19 0:00:00

Statistical process control of key processes for space-level component
Jia Bin and Duan Chao.Statistical process control of key processes for space-level component[J].Spacecraft Environment Engineering,2012,29(2):227-230.
Authors:Jia Bin and Duan Chao
Institution:(China Aerospace Components Engineering Center,China Academy of Space Technology,Beijing 100094,China)
Abstract:Based on the average value-standard deviation(-R) control chart theory of the statistical process control(SPC),the bond strength of the integrated circuit,as an important parameter in processing space-level components and parts,is investigated.The importance of the SPC in processing space-level components and parts is discussed,with the(-R) control chart as a tool for quality control.The process power index in the above key process is calculated.
Keywords:statistical process control  component processing  check from a second party  data monitoring
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