| 90 keV电子辐照对Kapton H薄膜化学结构的影响 |
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| 引用本文： | 李春东,施飞舟,杨德庄,等.90 keV电子辐照对Kapton H薄膜化学结构的影响[J].航天器环境工程,2009,26(1):9-11. |
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| 作者姓名： | 李春东 施飞舟 杨德庄 等 |
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| 作者单位： | 1. 哈尔滨工业大学,空间材料与环境工程实验室,哈尔滨,150001
2. 上海航天技术研究院第805研究所,上海,201108 |
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| 摘 要： | 文章研究了能量为90 kev的电子辐照对kapton h薄膜化学结构的影响.xps分析表明,低能电子辐照导致kapton h薄膜分子结构中c-n和c-o键的断裂,以及c＝o键的断裂和重组,并且有部分键断裂后交联.随着辐照剂量及辐照能量的增加,材料中的c-n、c＝o键含量减少,形成表面碳富集.辐照使柔性结构c-o键被破坏,产生的交联及以苯环为主的三维立体网状结构使其表面硬度增加.
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| 关 键 词： | 电子辐照 kapton h xps分析 化学结构 |
| 收稿时间： | 2008/7/23 0:00:00 |
| 修稿时间： | 2008/9/23 0:00:00 |
Effects of 90 keV proton irradiation on chemical structure of Kapton H film |
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| Li Chundong,Shi Feizhou,Yang Dezhuang.Effects of 90 keV proton irradiation on chemical structure of Kapton H film[J].Spacecraft Environment Engineering,2009,26(1):9-11. |
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| Authors: | Li Chundong Shi Feizhou Yang Dezhuang |
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| Institution: | 1.Space Materials and Environment Engineering Laboratory;Harbin Institute of Technology;Harbin 150001;China;2.No.805 Research Institute;Shanghai Academy of Spaceflight Technology;Shanghai 201108;China |
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| Abstract: | In this paper,the effects of 90 keV proton irradiation on chemical structure of Kapton H film are investigated.X-ray photoelectron spectroscopy(XPS) analysis results show that the low energy electron irradiation induces the break of C-N and C-O bands in Kapton H film molecular structure,the break of C = O bands and the recombination,while,some broken bands can cross thelinkage again.The number of C -N and C = O bands decreases with increasing electron irradiation energy in Kapton H film molecular structure.... |
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| Keywords: | Kapton H |
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