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一种基于散斑图像的嵌入式微位移测量系统的研制
引用本文:刘大亮,王庆,刘忠,张毅,孙国辉,白冰,赵洪杰.一种基于散斑图像的嵌入式微位移测量系统的研制[J].航天制造技术,2012(1):52-56,60.
作者姓名:刘大亮  王庆  刘忠  张毅  孙国辉  白冰  赵洪杰
作者单位:首都航天机械公司
摘    要:为了满足微位移量的实时、非接触测量的需要,研制了一种基于散斑图像的嵌入式微位移测量系统。从计算精度、存储资源和计算效率等角度,综合分析比较了Dirac法、IDFT法、MMSEI法和MMSEII法的测量性能,并基于MMSEI法和DSP处理器(TMS320DM642)设计实现该测量系统。重点论述了系统软件和实验系统的设计与实现方法,并分别在不同运动速度、表面粗糙度和表面材料的条件下,对测量系统进行实验和数据分析。实验结果表明,该测量系统是可行有效的,但系统的稳定性需要进一步改进和提高。

关 键 词:微位移测量  散斑图像  嵌入式系统

Development on an Embedded Speckle Pattern Micro-Displacement Measurement System
Liu Daliang Wang Qing Liu Zhong Zhang Yi Sun Guohui Bai Bing Zhao Hongjie.Development on an Embedded Speckle Pattern Micro-Displacement Measurement System[J].Aerospace Manufacturing Technology,2012(1):52-56,60.
Authors:Liu Daliang Wang Qing Liu Zhong Zhang Yi Sun Guohui Bai Bing Zhao Hongjie
Institution:Liu Daliang Wang Qing Liu Zhong Zhang Yi Sun Guohui Bai Bing Zhao Hongjie(Capital Aerospace Machinery Company,Beijing 100076)
Abstract:
Keywords:
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