| 航天电子抗辐射研究综述 |
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| 引用本文： | 冯彦君,华更新,刘淑芬.航天电子抗辐射研究综述[J].宇航学报,2007,28(5):1071-1080. |
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| 作者姓名： | 冯彦君 华更新 刘淑芬 |
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| 作者单位： | 中国空间技术研究院,北京控制工程研究所,北京,100080 |
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| 摘 要： | 辐射是影响航天电子设备高可靠长寿命运行的重要因素,是当前航天电子技术的研究重点。首先介绍了造成各种辐射效应的空间辐射环境,以及总剂量、单粒子、位移损伤和航天器带电等辐射效应的内在物理原理;然后,综述了当前最新的抗辐射措施、辐射试验方法、抗辐射加固保障等技术,最后指出抗辐射研究的方向。
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| 关 键 词： | 航天电子 辐射效应 抗辐射加固 抗辐射加固保障 |
| 文章编号： | 1000-1328(2007)05-1071-10 |
| 修稿时间： | 2006年9月6日 |
Radiation Hardness for Space Electronics |
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| FENG Yan-jun,HUA Geng-xin,LIU Shu-fen.Radiation Hardness for Space Electronics[J].Journal of Astronautics,2007,28(5):1071-1080. |
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| Authors: | FENG Yan-jun HUA Geng-xin LIU Shu-fen |
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