二次电子发射特性测量装置的研究与进展 |
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作者姓名: | 苗光辉 崔万照 杨 晶 张 恒 |
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摘 要: | 微放电效应出发引出对二次电子发射特性的研究,针对二次电子发射特性的测量,分析研究了当下通用的二次电子系数和能谱的测量方法。着重介绍了国内外具有代表性的重点科室其测量二次电子发射特性的装置,详细对比了不同装置二次电子特性测量的准确性和差异性,总结了各自的优势和不足。最后指出了目前二次电子测试平台装置急需解决的一些制约测试质量的问题和难点,以及在测量装置研究上进一步的发展方向及趋势。为更加深入地研究二次电子发射理论和数值模拟问题奠定坚实的实验基础。
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